[发明专利]一种适用于不同超声波机型影像之无回音区域及高回音亮点量化特征的校正方法

摘要

本发明公开的系统及方法，针对不同超声波影像中的无回音区域以及高回音亮点的量化特征，提供一超声波影像的累加校正模式以及一对比校正模式，包含数据收集单元、分析单元、计算单元、以及校正单元。数据收集单元连结第一超声波影像装置以及第二超声波影像装置，分别对仿体进行拍摄，而得到第一仿体影像以及第二仿体影像；分析单元及计算单元系由该些第一仿体影像以及该些第二仿体影像之声能强度区域取得一分析数值；经由校正单元取得一校正值。

主权项

一种超声波影像校正系统，用于提供一超声波影像的累加校正模式，包含：一数据收集单元，连接一第一超声波影像装置对一仿体进行拍摄，得到一第一仿体影像，其中所述仿体具有一声能强度区域；一分析单元，对第一仿体影像的声能强度区域进行分析，取得一第一统计数值；一计算单元，计算第一统计数值中灰阶值，得到一第一标准差值；以及一累加校正单元，通过一第二超声波影像装置所取得的一第二统计数值以及一回音阈值，累计第二统计数值中灰阶值小于回音阈值的百分比，取得一对应百分比，且由小至大累计第一统计数值的灰阶值的百分比直至相等于该对应百分比，则该对应百分比于第一统计数值所累计的灰阶值的最大整数值为一对应值，并由对应值取得一对应参考值；其中，对应参考值为第一超声波影像装置的校正值。