[发明专利]光学膜的不良检测装置及方法有效
| 申请号： | 201610102536.3 | 申请日： | 2016-02-24 |
| 公开（公告）号： | CN105910794B | 公开（公告）日： | 2021-02-09 |
| 发明（设计）人： | 金种佑;朴真用 | 申请（专利权）人： | 东友精细化工有限公司 |
| 主分类号： | G01M11/00 | 分类号： | G01M11/00 |
| 代理公司： | 北京市中伦律师事务所 11410 | 代理人： | 石宝忠 |
| 地址： | 韩国全*** | 国省代码： | 暂无信息 |
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| 摘要： | 本发明提供光学膜的不良检测装置及方法。本发明涉及的光学膜的不良检测装置包含：接收部，其从至少一个检查装置接收光学膜卷(roll)的不良信息；不良位置决定部，其基于所述不良信息来决定与所述光学膜卷对应的二维平面上的不良的位置；探索部，其基于所述不良的位置来探索所述平面上已被设定的数以上的不良存在的区域；不良检测部，其基于所述被探索的区域中所含的不良的数及不良间的间隔来检测周期性不良。 | ||
| 搜索关键词： | 光学 不良 检测 装置 方法 | ||
【主权项】：
光学膜的不良检测装置，其包含：接收部，其从至少一个检查装置接收光学膜卷(roll)的不良信息；不良位置决定部，其基于所述不良信息来决定与所述光学膜卷对应的二维平面上的不良的位置；探索部，其基于所述不良的位置来探索所述二维平面上的已被设定的数以上的不良存在的区域；和不良检测部，其基于所述被探索的区域中所含的不良的数及不良间的间隔来检测周期性不良。
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