[发明专利]磷酸铁锂电极材料的高低温原位XRD分析测试方法在审
| 申请号： | 201610097733.0 | 申请日： | 2016-02-22 |
| 公开（公告）号： | CN105891242A | 公开（公告）日： | 2016-08-24 |
| 发明（设计）人： | 韩春华;张国彬;梅志文;熊腾飞;晏梦雨 | 申请（专利权）人： | 武汉理工大学 |
| 主分类号： | G01N23/20 | 分类号： | G01N23/20 |
| 代理公司： | 湖北武汉永嘉专利代理有限公司 42102 | 代理人： | 崔友明 |
| 地址： | 430070 湖*** | 国省代码： | 湖北;42 |
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| 摘要： | 本发明涉及磷酸铁锂电极材料的高低温原位XRD分析测试方法，包括有以下步骤：利用普通实验室的X射线光源，设置原位测试程序以每三十秒获得一幅高温测试模具或低温测试模具中的磷酸铁锂的XRD图样，且设置二维面探XRD的观测角度为17°；持续这个过程1000次，即可完成XRD测试程序。本发明中不需要拆卸电池，即可完成对电极材料的原位XRD表征，同时完成温度变量对电极材料的影响探究。本文揭示了磷酸铁锂电极材料的低温劣化性能是因为其在低温下晶格自锁和低温下离子迁移扩散速率变低。因此在过电势较大或者极化很大情况下依然无法实现锂离子的快速迁移以及充电或放电深度的增加。 | ||
| 搜索关键词： | 磷酸 电极 材料 低温 原位 xrd 分析 测试 方法 | ||
【主权项】：
一种磷酸铁锂电极材料的高低温原位XRD分析测试方法，其特征在于包括有以下步骤：利用普通实验室的X射线光源，设置原位测试程序以每三十秒获得一幅高温测试模具或低温测试模具中的磷酸铁锂的XRD图样，且设置二维面探XRD的观测角度为17°；持续这个过程1000次，即可完成XRD测试程序。
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