[发明专利]一种模拟电路健康预测方法

摘要

一种模拟电路健康预测方法，包括如下步骤：采集电路容差、无故障模式下的测试样本集；计算电路容差、无故障模式下样本向量的统计平均值；计算电路容差、无故障模式下容差电压增量信号集；计算电路容差、无故障模式下的容差电压增量信号的基频能量熵；计算无故障容差电压增量信号的最大能量熵；采集电路待测时刻电压信号；计算电路待测时刻电压增量信号；计算电路待测时刻电压增量信号的基频能量熵；计算待测电路健康指数；以电路健康指数为依据，判断电路健康情况。本发明能在不丢失原始测量信息的前提下，利用EWT分解出测试信号基频信号，通过分别计算基频信号的能量熵与电路健康参数，完成对电路健康状况的判断。

主权项

1.一种模拟电路健康预测方法，其特征在于，包括如下步骤：(1)采集电路容差、无故障模式下的测试样本集：利用数据采集器获取待测模拟电路容差、无故障模式F⁰下的M组电压样本向量其中为采集到的无故障模式F⁰的第i组样本向量；(2)计算电路容差、无故障模式F⁰下的M组电压样本向量的统计平均值(3)计算电路容差、无故障模式F⁰下模拟电路测试样本容差电压增量信号集ΔV⁰：令则其中为第i个样本的容差电压增量信号；(4)计算电路容差、无故障模式F⁰下的容差电压增量信号的基频能量熵(5)计算无故障容差电压增量信号的最大能量熵：其中max(·)代表取最大值；(6)利用数据采集器采集电路待测时刻电压信号v；(7)计算电路待测时刻电压增量信号△v：其中与步骤(2)中相同，即为无故障模式下的样本向量统计平均值；(8)计算电路待测时刻电压增量信号△v的基频能量熵HT；(9)计算待测电路健康指数HI：(10)按如下规则判断电路健康情况：若HI≥1,则判为健康；若HI＜1,则判为电路出现故障，需要维修。