[发明专利]测量数据对制造工具位置和处理批次或时间的映射有效
申请号: | 201580067881.1 | 申请日: | 2015-10-20 |
公开(公告)号: | CN107004618B | 公开(公告)日: | 2020-11-03 |
发明(设计)人: | G.艾尔斯;S.麦克唐纳 | 申请(专利权)人: | 奥罗拉太阳能技术(加拿大)股份有限公司 |
主分类号: | H01L21/66 | 分类号: | H01L21/66;H01L31/028;H01L31/18 |
代理公司: | 北京市柳沈律师事务所 11105 | 代理人: | 宋莉 |
地址: | 加拿大不列*** | 国省代码: | 暂无信息 |
权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
摘要: | 本发明提供用于光伏产品的制造过程控制的方法和系统。一些实施方案涉及追踪用于光伏产品的晶片关于哪个制造工具处理它们和它们在该制造工具中的位置的方法。一些实施方案涉及测量和表征部分完成的光伏产品的品质关键性参数,所述部分完成的光伏产品由所讨论的制造工具产生。一些实施方案涉及所测量的参数在计算机屏幕上的显示和可视化,使得各制造单元的参数可在以下范围中直接观察:哪个制造工具处理它们、在处理期间它们位于具体制造工具内的哪个位置、和哪个批次或在连续处理的情况下何时单元被处理。 | ||
搜索关键词: | 测量 数据 制造 工具 位置 处理 批次 时间 映射 | ||
【主权项】:
用于在光伏产品中使用的硅电池的制造期间的品质监控的方法,所述方法包括:在制造操作后测量硅晶片的特性,所述制造操作包括通过制造工具的处理;确定在处理期间在制造工具内的硅晶片的空间次序、时间次序、或空间次序和时间次序两者;和基于硅晶片的经测量的特性提供信息的图形显示,所述信息根据空间次序、时间次序、或空间次序和时间次序两者空间地排列在图形显示上。
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H01 基本电气元件
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L21-00 专门适用于制造或处理半导体或固体器件或其部件的方法或设备
H01L21-02 .半导体器件或其部件的制造或处理
H01L21-64 .非专门适用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各组的单个器件所使用的除半导体器件之外的固体器件或其部件的制造或处理
H01L21-66 .在制造或处理过程中的测试或测量
H01L21-67 .专门适用于在制造或处理过程中处理半导体或电固体器件的装置;专门适合于在半导体或电固体器件或部件的制造或处理过程中处理晶片的装置
H01L21-70 .由在一共用基片内或其上形成的多个固态组件或集成电路组成的器件或其部件的制造或处理;集成电路器件或其特殊部件的制造
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L21-00 专门适用于制造或处理半导体或固体器件或其部件的方法或设备
H01L21-02 .半导体器件或其部件的制造或处理
H01L21-64 .非专门适用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各组的单个器件所使用的除半导体器件之外的固体器件或其部件的制造或处理
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