[发明专利]用于光子计数应用的谱材料分解有效
| 申请号： | 201580034995.6 | 申请日： | 2015-06-25 |
| 公开（公告）号： | CN106471393B | 公开（公告）日： | 2019-11-26 |
| 发明（设计）人： | E·勒斯尔 | 申请（专利权）人： | 皇家飞利浦有限公司 |
| 主分类号： | G01T1/17 | 分类号： | G01T1/17;A61B6/00 |
| 代理公司： | 72002 永新专利商标代理有限公司 | 代理人： | 李光颖;王英<国际申请>=PCT/EP2 |
| 地址： | 荷兰艾*** | 国省代码： | 荷兰;NL |
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| 摘要： | 一种用于处理由X射线敏感探测器探测到的计数事件的方法和相关装置。信号模型被拟合到探测到的事件以计算感兴趣的物理量。 | ||
| 搜索关键词： | 用于 光子 计数 应用 材料 分解 | ||
【主权项】：
1.一种处理在辐射经过样本之后由能量分辨探测器系统测量的信号的方法，所述方法包括：/n接收(S510)针对与所述探测器的光子相互作用的测量的计数率；/n将信号模型拟合(S515)到探测到的计数，其中，所述信号模型被配置为解释脉冲堆积效应，所述信号模型表示在给定所述样本中的材料的物理量的情况下的至少一个能量水平(E)的至少单向脉冲交叉的频率的条件预期，其中，依据脉冲高度变量(u)的傅里叶表示来表达所述信号模型。/n
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