[发明专利]气体分析方法及气体分析装置在审
申请号: | 201580011732.3 | 申请日: | 2015-09-24 |
公开(公告)号: | CN106062534A | 公开(公告)日: | 2016-10-26 |
发明(设计)人: | 高木茂行;角野努;盐见康友;前川阳;草场美幸;长谷川裕;麻柄隆 | 申请(专利权)人: | 株式会社东芝 |
主分类号: | G01N21/3504 | 分类号: | G01N21/3504 |
代理公司: | 永新专利商标代理有限公司 72002 | 代理人: | 胡建新 |
地址: | 日本*** | 国省代码: | 日本;JP |
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摘要: | 气体分析方法,对被导入到气室的采样气体入射被调谐为与所述采样气体中包含的对象气体的一个吸收谱线对应的波长的红外光,测定与透射所述气室后的所述红外光的透射光的强度对应的采样信号值,将所述气室内的所述采样气体排气后用基准气体进行置换,测定与透射所述基准气体后的所述红外光的透射光的强度对应的基准信号值,根据所述采样信号值相对于所述基准信号值的比率,计算所述一个吸收谱线上的气体浓度。 | ||
搜索关键词: | 气体 分析 方法 装置 | ||
【主权项】:
一种气体分析方法,对被导入到气室的采样气体入射被调谐为与所述采样气体中包含的对象气体的一个吸收谱线对应的波长的红外光,测定与透射所述气室后的所述红外光的透射光的强度对应的采样信号值,将所述气室内的所述采样气体排气后用基准气体进行置换,测定与透射所述基准气体后的所述红外光的透射光的强度对应的基准信号值,根据所述采样信号值相对于所述基准信号值的比率,计算所述一个吸收谱线上的气体浓度。
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