[实用新型]一种IC芯片测试治具有效

专利信息
申请号: 201520717175.4 申请日: 2015-09-16
公开(公告)号: CN205080162U 公开(公告)日: 2016-03-09
发明(设计)人: 李国瑞 申请(专利权)人: 昆山瑞鸿诚自动化设备科技有限公司
主分类号: G01R1/04 分类号: G01R1/04
代理公司: 暂无信息 代理人: 暂无信息
地址: 215300 江苏省苏*** 国省代码: 江苏;32
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摘要: 实用新型提出了一种IC芯片测试治具,包括基座、压头模组、微针模组和承插板,基座上端固定安装有支撑板,支撑板上设有压头模组,压头模组下端设有微针模组,微针模组下方设有承插板,承插板固定安装在支撑板上,压头模组一侧设有压合装置,压合装置与压头模组相连接。本治具结构简单,操作方便,本技术采用微针连接IC芯片对IC芯片内部线路进行检测,微针连接不会对产品造成损失,在保证产品品质的前提下进行测试,同时,本治具测试精度高,防止不合格品流出还影响后续产品的加工,生产。
搜索关键词: 一种 ic 芯片 测试
【主权项】:
一种IC芯片测试治具,包括基座、压头模组、微针模组和承插板,其特征在于:所述基座上端固定安装有支撑板,所述支撑板上设有压头模组,所述压头模组下端设有微针模组,所述微针模组下方设有承插板,所述承插板固定安装在支撑板上,所述压头模组一侧设有压合装置,所述压合装置与压头模组相连接。
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