[发明专利]芯片测试分选方法在审
| 申请号： | 201510246093.0 | 申请日： | 2015-05-14 |
| 公开（公告）号： | CN105467256A | 公开（公告）日： | 2016-04-06 |
| 发明（设计）人： | 顾汉玉 | 申请（专利权）人： | 华润赛美科微电子（深圳）有限公司 |
| 主分类号： | G01R31/01 | 分类号： | G01R31/01 |
| 代理公司： | 广州华进联合专利商标代理有限公司 44224 | 代理人： | 邓云鹏 |
| 地址： | 518040 广东省*** | 国省代码： | 广东;44 |
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| 摘要： | 本发明涉及一种芯片测试分选方法，包括步骤，S1.提供测试仪以及多工位分选机；S2.通过电缆将测试仪与分选机的通信接口连接，将测试仪的测试端口与分选机的工位连接；S3.保留分选机的尚未通过测试的一个工位并关闭分选机的其他工位；S4.测试当前保留的工位的电缆连接关系是否正确，若连接关系正确则当前保留的工位通过测试，再次进行S3步骤，直至所有工位都通过测试；若测试出连接关系不正确则调整当前保留的工位的电缆连接关系，然后继续重复S4步骤；S5.开启分选机的所有工位，进行芯片的批量测试分选。该芯片测试分选方法能够有效地避免因多工位分选机电缆连接错误而导致的误分类问题。 | ||
| 搜索关键词： | 芯片 测试 分选 方法 | ||
【主权项】：
一种芯片测试分选方法，包括步骤：S1.提供具有多个测试端口和多个通信接口的测试仪、以及具有多个工位和多个通信接口的分选机；S2.通过通信电缆将测试仪的通信接口与分选机的通信接口一对一连接，并通过测试电缆将测试仪的多个测试端口与分选机的多个工位一对一连接；S3.保留分选机的尚未通过测试的一个工位并关闭分选机的其他工位；S4.测试当前保留的工位与测试仪测试端口的测试电缆连接关系以及当前保留的工位对应的分选机通信接口与相应的测试仪通信接口之间的通信电缆连接关系是否正确，若测试出连接关系正确则当前保留的工位通过测试，再次进行S3步骤，直至所有工位都通过测试；若测试出连接关系不正确则调整当前保留的工位与测试仪测试端口的测试电缆连接关系以及/或当前保留的工位对应的分选机通信接口与相应的测试仪通信接口之间的通信电缆连接关系，然后继续重复S4步骤；S5.开启分选机的所有工位，在分选机的多个工位上同时进行芯片的批量测试分选。
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