[发明专利]紫外线照射装置有效

专利信息
申请号: 201480044686.2 申请日: 2014-03-13
公开(公告)号: CN105452173B 公开(公告)日: 2017-08-04
发明(设计)人: 小林伸次;阿部法光;出健志;城田昭彦;竹内贤治 申请(专利权)人: 株式会社东芝
主分类号: G01J1/10 分类号: G01J1/10;G01J1/02;C02F1/32
代理公司: 永新专利商标代理有限公司72002 代理人: 徐殿军
地址: 日本*** 国省代码: 暂无信息
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摘要: 实施方式的紫外线照射装置具备照射部、计测部、检测部、计算部、显示部。照射部向成为处理对象的处理水照射处理用的紫外线。计测部计测透射处理水后的紫外线的紫外线强度。检测部根据通过计测部计测到的紫外线强度来检测照射部发生了劣化的情况。计算部根据与预先设定的设定值相应地从照射部照射的紫外线的紫外线强度与通过计测部计测出的紫外线强度,计算处理水的紫外线透射率。显示部显示基于检测部的照射部的劣化的检测结果以及通过计算部计算出的紫外线透射率。
搜索关键词: 紫外线 照射 装置
【主权项】:
一种紫外线照射装置,具备:照射部,其向成为处理对象的处理水照射处理用的紫外线;计测部,其计测透射所述处理水后的紫外线的紫外线强度;检测部,其根据通过所述计测部计测到的紫外线强度来检测所述照射部产生了劣化的情况;计算部,其根据与预先设定的设定值相应地从所述照射部照射的紫外线的紫外线强度与通过所述计测部计测出的紫外线强度,计算所述处理水的紫外线透射率;以及显示部,其显示基于所述检测部的所述照射部的劣化的检测结果、以及通过所述计算部计算出的所述紫外线透射率,所述计测部以与所述照射部分离的方式配置,以使得所述照射部的劣化所导致的所述紫外线透射率的变动量在允许误差以下。
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  • 刘兴润;刘浩;李霞;朱希娟 - 北京环境特性研究所
  • 2013-11-25 - 2017-02-01 - G01J1/10
  • 本发明属于量程扩展方法,具体涉及一种扩展可见光测量量程范围的方法。它包括步骤一测量标准板,测量标准光亮度Lvr和每幅图像的像素平均值步骤二测量目标,测量每幅图像的像素值Psumi。步骤三计算。使用本发明的效果是(1)在对目标模型进行不同角度的光散射测量时,避免了CCD图像饱和对测量结果的影响。(2)测量结果既考虑目标散射大面积的低散射分量,又兼顾了小面积的高反射分量。(3)扩展了可见光测量量程。(4)利用该测量方法获得数据处理结果,分析了目标模型不同的光散射分布。
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