[发明专利]芯片装置、分析设备、容纳容器和容纳容器系统有效

专利信息
申请号: 201410421606.2 申请日: 2014-08-25
公开(公告)号: CN104425869B 公开(公告)日: 2018-04-27
发明(设计)人: G·霍尔韦格;T·亨德尔;G·霍弗;W·帕赫勒 申请(专利权)人: 英飞凌科技股份有限公司
主分类号: H01Q1/22 分类号: H01Q1/22;H01Q1/38;H01Q7/00;H04B5/00;G06K19/077
代理公司: 北京市金杜律师事务所11256 代理人: 郑立柱
地址: 德国诺伊*** 国省代码: 暂无信息
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摘要: 发明涉及一种芯片装置、一种分析设备、一种容纳容器和一种容纳容器系统。在不同的实施例中提供了一种芯片装置(10)。该芯片装置(10)具有第一芯片(14)、第二芯片(18)和增益天线(22)。第一芯片具有整体地集成在所述第一芯片(14)之中的、用于与外部的读取和/或写入装置通信的第一天线(16)。第二芯片(18)具有整体地集成在所述第二芯片(18)之中的、用于与所述外部的读取和/或写入装置通信的第二天线(20)。增益天线(22)为了提高所述第一天线(16)的可达范围而在第一耦合区域(24)之中与所述第一天线(16)相耦合并且为了提高所述第二天线(20)的可达范围而在第二耦合区域(28)之中与所述第二天线(20)相耦合。
搜索关键词: 芯片 装置 分析 设备 容纳 容器 系统
【主权项】:
一种芯片装置(10),其具有:‑第一芯片(14),其具有整体地集成在所述第一芯片(14)之中的、用于与外部的读取和/或写入装置通信的第一天线(16);‑第二芯片(18),其具有整体地集成在所述第二芯片(18)之中的、用于与所述外部的读取和/或写入装置通信的第二天线(20);‑增益天线(22),其为了提高所述第一天线(16)的可达范围而在第一耦合区域(24)中与所述第一天线(16)相耦合并且为了提高所述第二天线(20)的可达范围而在第二耦合区域(28)中与所述第二天线(20)相耦合;‑支撑件(12),其具有第一凹槽(32)和第二凹槽(34),所述第一芯片(14)设置在所述第一凹槽(32)之中并且所述第二芯片(18)设置在所述第二凹槽(34)之中;以及‑其中,所述第一耦合区域(24)被构造在所述第一凹槽(32)之中,和/或嵌入至接近所述第一凹槽(32)的支撑件的材料之中,并且‑所述第二耦合区域(28)被构造在所述第二凹槽(34)之中,和/或嵌入至接近所述第二凹槽(34)的支撑件的材料之中。
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