[发明专利]利用不同电子电离能量的电子电离有效

专利信息
申请号: 201410222159.8 申请日: 2014-05-23
公开(公告)号: CN104241075B 公开(公告)日: 2018-06-08
发明(设计)人: H.F.普雷斯特;M.王;J.T.科南 申请(专利权)人: 安捷伦科技有限公司
主分类号: H01J49/14 分类号: H01J49/14;H01J49/34
代理公司: 北京坤瑞律师事务所 11494 代理人: 封新琴
地址: 美国加利*** 国省代码: 美国;US
权利要求书: 查看更多 说明书: 查看更多
摘要: 通过利用电子电离(EI)源进行质谱。EI源以包括低于和高于70eV的不同电子能量电离样品。EI源可用于软电离以及硬电离。可以选择电子能量的值,以便有利于分子离子或高分析值的其它离子的形成。离子源可以是轴向离子源。
搜索关键词: 电子电离 电离 电子能量 离子源 分子离子 可用 质谱 轴向 离子 分析
【主权项】:
一种用于获取质谱数据的方法,所述方法包括:(a)以第一电子能量在电子电离(EI)源中产生电子束;(b)将包含目的分析物的样品引入EI源;(c)以所述第一电子能量采用所述电子束照射样品来从所述目的分析物中产生第一分析物离子;(d)将所述第一分析物离子传送到质量分析器中来产生与所述第一电子能量相关联的第一质谱;(e)将电子能量调节至与所述第一电子能量不同的第二电子能量;(f)以所述第二电子能量采用所述电子束照射样品来从所述目的分析物中产生第二分析物离子;以及(g)将所述第二分析物离子传送到质量分析器中来产生与所述第二电子能量相关联的第二质谱,特征在于,从所述第一质谱和第二质谱中,确定所述第一电子能量和第二电子能量中的哪个是产生目标分析物离子的最高丰度、或产生目标分析物离子与其他碎片离子的最高比率、或产生目标分析物离子的最高丰度及目标分析物离子与其他碎片离子的最高比率这二者的目标电子能量,其中,所述目标分析物离子是已知具有所述目的分析物的特征的离子;并且调节所述电子束至所述目标电子能量、将额外的样品引入所述EI源中、以及以所述目标电子能量电离所述额外的样品。
下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。

该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于安捷伦科技有限公司,未经安捷伦科技有限公司许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服

本文链接:http://www.vipzhuanli.com/patent/201410222159.8/,转载请声明来源钻瓜专利网。

×

专利文献下载

说明:

1、专利原文基于中国国家知识产权局专利说明书;

2、支持发明专利 、实用新型专利、外观设计专利(升级中);

3、专利数据每周两次同步更新,支持Adobe PDF格式;

4、内容包括专利技术的结构示意图流程工艺图技术构造图

5、已全新升级为极速版,下载速度显著提升!欢迎使用!

请您登陆后,进行下载,点击【登陆】 【注册】

关于我们 寻求报道 投稿须知 广告合作 版权声明 网站地图 友情链接 企业标识 联系我们

钻瓜专利网在线咨询

周一至周五 9:00-18:00

咨询在线客服咨询在线客服
tel code back_top