[发明专利]利用不同电子电离能量的电子电离有效
申请号: | 201410222159.8 | 申请日: | 2014-05-23 |
公开(公告)号: | CN104241075B | 公开(公告)日: | 2018-06-08 |
发明(设计)人: | H.F.普雷斯特;M.王;J.T.科南 | 申请(专利权)人: | 安捷伦科技有限公司 |
主分类号: | H01J49/14 | 分类号: | H01J49/14;H01J49/34 |
代理公司: | 北京坤瑞律师事务所 11494 | 代理人: | 封新琴 |
地址: | 美国加利*** | 国省代码: | 美国;US |
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摘要: | 通过利用电子电离(EI)源进行质谱。EI源以包括低于和高于70eV的不同电子能量电离样品。EI源可用于软电离以及硬电离。可以选择电子能量的值,以便有利于分子离子或高分析值的其它离子的形成。离子源可以是轴向离子源。 | ||
搜索关键词: | 电子电离 电离 电子能量 离子源 分子离子 可用 质谱 轴向 离子 分析 | ||
【主权项】:
一种用于获取质谱数据的方法,所述方法包括:(a)以第一电子能量在电子电离(EI)源中产生电子束;(b)将包含目的分析物的样品引入EI源;(c)以所述第一电子能量采用所述电子束照射样品来从所述目的分析物中产生第一分析物离子;(d)将所述第一分析物离子传送到质量分析器中来产生与所述第一电子能量相关联的第一质谱;(e)将电子能量调节至与所述第一电子能量不同的第二电子能量;(f)以所述第二电子能量采用所述电子束照射样品来从所述目的分析物中产生第二分析物离子;以及(g)将所述第二分析物离子传送到质量分析器中来产生与所述第二电子能量相关联的第二质谱,特征在于,从所述第一质谱和第二质谱中,确定所述第一电子能量和第二电子能量中的哪个是产生目标分析物离子的最高丰度、或产生目标分析物离子与其他碎片离子的最高比率、或产生目标分析物离子的最高丰度及目标分析物离子与其他碎片离子的最高比率这二者的目标电子能量,其中,所述目标分析物离子是已知具有所述目的分析物的特征的离子;并且调节所述电子束至所述目标电子能量、将额外的样品引入所述EI源中、以及以所述目标电子能量电离所述额外的样品。
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