[发明专利]一种激光盲孔与通孔对位精度的检测方法无效
| 申请号： | 201410149153.2 | 申请日： | 2014-04-14 |
| 公开（公告）号： | CN103900475A | 公开（公告）日： | 2014-07-02 |
| 发明（设计）人： | 崔连旺;郑威;曲键 | 申请（专利权）人： | 大连太平洋电子有限公司 |
| 主分类号： | G01B11/00 | 分类号： | G01B11/00;G01B11/14 |
| 代理公司： | 大连东方专利代理有限责任公司 21212 | 代理人： | 杨威;李洪福 |
| 地址： | 116600 辽*** | 国省代码： | 辽宁;21 |
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| 摘要： | 本发明公开了一种激光盲孔与通孔对位精度的检测方法，其特征在于包括：一个对位通孔，和均布在该对位通孔周围的四个对位激光盲孔或激光孔层对位窗口；通过对位精度检测模块上的对位通孔和对位激光盲孔或激光孔层对位窗口的对位状态，使用刻度放大镜对其间距进行测量，从而对通孔与激光盲孔之间的对位精度进行准确判断；本发明所述方法可以对HDI印制板上通孔和激光盲孔之间的对位状态进行直观判断，避免了两者通过其与内层图形的对位状态进行间接判断，不用研磨切片，提高了对位精度检测效率和生产效率。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 激光 对位 精度 检测 方法 | ||
【主权项】：
一种激光盲孔与通孔对位精度的检测方法，其特征在于包括如下步骤：首先在HDI印制板的四个角上设置对位精度检测模块，所述检测模块由对位通孔和对位激光盲孔或激光孔层对位窗口所组成；然后检测对位精度检测模块上的对位通孔和对位激光盲孔或激光孔层对位窗口的对位状态，即使用刻度放大镜对对位通孔和对位激光盲孔或激光孔层对位窗口的间距进行测量，从而对通孔与激光盲孔之间的对位精度进行判断。
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