[发明专利]稳定的可浓缩的硅晶片抛光组合物及相关方法有效
申请号: | 201410141252.6 | 申请日: | 2014-04-10 |
公开(公告)号: | CN104099026A | 公开(公告)日: | 2014-10-15 |
发明(设计)人: | N·K·奔达;L·M·库克 | 申请(专利权)人: | 罗门哈斯电子材料CMP控股股份有限公司 |
主分类号: | C09G1/02 | 分类号: | C09G1/02;B24B29/00;B24D13/00 |
代理公司: | 上海专利商标事务所有限公司 31100 | 代理人: | 陆蔚 |
地址: | 美国特*** | 国省代码: | 美国;US |
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摘要: | 提供一种用于抛光硅晶片的稳定的可浓缩的硅晶片抛光组合物,其含有:水;磨料;如通式(I)所示的阳离子;如通式(II)所示的哌嗪或哌嗪衍生物;任选的pH调节剂;其中所述抛光组合物具有至少300纳米/分钟的硅去除速率。还提供制备和使用该稳定的可浓缩的化学机械抛光组合物的方法。 | ||
搜索关键词: | 稳定 浓缩 晶片 抛光 组合 相关 方法 | ||
【主权项】:
一种用于抛光硅晶片的稳定的可浓缩的化学机械抛光组合物,其含有:水;磨料;如通式(I)所示的阳离子:
其中R1、R2、R3、R4独立地选自下组:氢和C1‑10烷基、C1‑10芳基、C1‑10芳基烷基和C1‑10烷基芳基;以及如通式(II)所示的哌嗪或哌嗪衍生物
其中R5选自下组:氢、C1‑10烷基、C1‑10芳基、C1‑10芳基烷基和C1‑10烷基芳基;以及任选地,pH调节剂;其中所述抛光组合物具有至少300纳米/分钟的硅去除速率。
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