[发明专利]用于集成电路设计的测量电路和方法有效
| 申请号： | 201410136719.8 | 申请日： | 2014-04-04 |
| 公开（公告）号： | CN104977469B | 公开（公告）日： | 2018-03-23 |
| 发明（设计）人： | 陈先敏;杨家奇 | 申请（专利权）人： | 中芯国际集成电路制造（上海）有限公司 |
| 主分类号： | G01R27/08 | 分类号： | G01R27/08 |
| 代理公司： | 北京康信知识产权代理有限责任公司11240 | 代理人： | 李志刚,吴贵明 |
| 地址： | 201203 *** | 国省代码： | 上海;31 |
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| 摘要： | 本发明公开了一种用于集成电路设计的测量电路和方法。其中，该用于集成电路设计的测量电路包括熔丝；第一测量电路，与所述熔丝相连接，包括第一测量端，所述第一测量端用于向所述第一测量电路加电压以测量所述第一测量电路的电阻值；以及第二测量电路，所述第二测量电路与所述第一测量电路的电阻值相同，包括第二测量端，所述第二测量端用于向第二测量电路加电压以测量所述第二测量电路的电阻值。通过本发明，解决了现有技术中无法准确测量IP核级的熔丝的电阻值的问题，进而达到了准确测量IP核级的熔丝的电阻值的效果。 | ||
| 搜索关键词： | 用于 集成电路设计 测量 电路 方法 | ||
【主权项】：
一种用于集成电路设计的测量电路，其特征在于，包括：熔丝；第一测量电路，与所述熔丝相连接，包括第一测量端，所述第一测量端用于向所述第一测量电路加电压以测量第一电阻值，其中所述第一电阻值为所述第一测量电路的电阻值和所述熔丝的电阻值之和；以及第二测量电路，所述第二测量电路与所述第一测量电路的电阻值相同，包括第二测量端，所述第二测量端用于向第二测量电路加电压以测量所述第二测量电路的电阻值，所述第一电阻值与所述第二测量电路电阻值的差值为所述熔丝的电阻值。
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