[发明专利]ICP发光分光分析装置有效
| 申请号： | 201410119634.9 | 申请日： | 2014-03-27 |
| 公开（公告）号： | CN104076024B | 公开（公告）日： | 2018-12-04 |
| 发明（设计）人： | 松泽修;赤松宪一;一宫丰 | 申请（专利权）人： | 日本株式会社日立高新技术科学 |
| 主分类号： | G01N21/73 | 分类号： | G01N21/73 |
| 代理公司： | 北京三友知识产权代理有限公司 11127 | 代理人： | 李辉;黄纶伟 |
| 地址： | 日本*** | 国省代码： | 日本;JP |
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| 摘要： | 本发明提供ICP发光分光分析装置，其利用光纤将原子发光线引导到分光器内且光学特性优异。ICP分析装置（1）由感应耦合等离子体装置（10）、光纤（20）、分光器（30）、安装部件（40）和光出射孔（41）构成。光纤（20）配置在感应耦合等离子体（18）与分光器（30）之间，通过安装部件（40）与分光器（30）连结。原子发光线经由光纤（20）通过光出射孔（41）而入射到分光器（30）内。安装部件（40）安装于分光器（30），将光纤（20）的露出的光透射部（21）插入并固定于帽（45），使光透射部（21）的端面（23）与设置于帽（45）的光出射孔（41）相邻。 | ||
| 搜索关键词： | icp 发光 分光 分析 装置 | ||
【主权项】：
1.一种ICP发光分光分析装置，其具有：感应耦合等离子体装置，其通过感应耦合等离子体使分析对象的元素进行原子化或者离子化，得到原子发光线；分光器，其取入所述原子发光线后，进行分光和检测；以及光纤，其连接所述感应耦合等离子体装置与所述分光器，所述光纤的端面与光出射孔相邻地设置，其中，该光出射孔从所述光纤向所述分光器射出原子发光线，所述光出射孔与所述光纤的端面之间的距离为如下范围：使得照射到设置于所述分光器内的凹面镜的原子发光线的照射区域的大小为所述凹面镜的反射有效孔径以上，所述光出射孔的中心轴与所述光纤的端面的中心轴的偏差在如下范围：使得照射到所述凹面镜的原子发光线的照射区域不偏离所述凹面镜的反射有效孔径。
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