[发明专利]一种基于正交移相共轭干涉仪方法的液晶型光学器件相位检测方法有效
| 申请号： | 201410110901.6 | 申请日： | 2014-03-24 |
| 公开（公告）号： | CN103837332A | 公开（公告）日： | 2014-06-04 |
| 发明（设计）人： | 杨若夫;石明亮;敖明武;董洪舟;杨春平 | 申请（专利权）人： | 电子科技大学 |
| 主分类号： | G01M11/02 | 分类号： | G01M11/02 |
| 代理公司： | 四川力久律师事务所 51221 | 代理人： | 林辉轮;王芸 |
| 地址： | 611731 四川省成*** | 国省代码： | 四川;51 |
| 权利要求书： | 查看更多 | 说明书： | 查看更多 |
| 摘要： | 本发明涉及液晶型光学器件相位检测领域，具体涉及一种基于正交移相共轭干涉仪方法的液晶型光学器件相位检测方法，将移相干涉技术与相位共轭技术相结合，并在移相干涉技术中将入射光正交偏振分解为一路移相参考臂和一路信号臂从而共光路入射进入液晶光学器件进行液晶调制相位的检测。本发明首次将正交移相共轭干涉仪的方法用于液晶型光学器件的相位检测，并结合移相干涉技术复原液晶的调制相位，明显优于一般的调制相位恢复的方法。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 基于 正交 共轭 干涉仪 方法 液晶 光学 器件 相位 检测 | ||
【主权项】：
一种基于正交移相共轭干涉仪方法的液晶型光学器件相位检测方法，其特征在于，在移相干涉技术中将入射光正交偏振分解为一路移相参考臂和一路信号臂从而共光路入射进入液晶光学器件进行液晶调制相位的检测，并采用共轭光学系统将液晶光学器件出射端与面阵探测器成相面共轭。
下载完整专利技术内容需要扣除积分，VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息，商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于电子科技大学，未经电子科技大学许可，擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作，请联系【客服】
本文链接：http://www.vipzhuanli.com/patent/201410110901.6/，转载请声明来源钻瓜专利网。
- 上一篇：车身可通过式台车检具
- 下一篇：孔类产品的3D检测治具
