[发明专利]晶片到晶片的熔接结合卡盘有效
申请号: | 201410094056.8 | 申请日: | 2014-03-14 |
公开(公告)号: | CN104051317B | 公开(公告)日: | 2017-08-29 |
发明(设计)人: | 林玮;S·斯科尔达斯;T·A·沃 | 申请(专利权)人: | 国际商业机器公司 |
主分类号: | H01L21/687 | 分类号: | H01L21/687 |
代理公司: | 中国国际贸易促进委员会专利商标事务所11038 | 代理人: | 李玲 |
地址: | 美国*** | 国省代码: | 暂无信息 |
权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
摘要: | 本申请涉及晶片到晶片的熔接结合卡盘。晶片结合卡盘的卡盘面,包括扁平的中央区和与中央区邻接的外部环形区,所述外部环形区比扁平的中央区低,使得安装到所述卡盘面的晶片的环形边缘部分相对于所述结合卡盘的卡盘面具有凸起的轮廓。所述外部环形区可以沿着与所述中央区垂直的轴移动。卡盘面可以包括多个邻接的区,这些区中至少一个相对于这些区中另一个可移动。 | ||
搜索关键词: | 晶片 熔接 结合 卡盘 | ||
【主权项】:
一种晶片到晶片的结合卡盘装置,所述结合卡盘装置包括:第一卡盘;以及第二卡盘;其中,所述第一卡盘和所述第二卡盘各自包括:扁平的中央区;以及与扁平的中央区邻接的外部环形区,所述外部环形区比扁平的中央区低并且从所述扁平的中央区倾斜,使得安装到卡盘的晶片的环形边缘部分相对于所述卡盘的卡盘面具有凸起的轮廓;其中,安装在第一卡盘上的第一晶片与安装在第二卡盘上的第二晶片在对准之后通过卡盘的移动而形成范德华结合,并在永久性退火结合之前使形成范德华结合的晶片经受热压结合工艺;其中,热压结合工艺包括:加热所述第一晶片和所述第二晶片到足以至少启动所述第一晶片和所述第二晶片的氧化物表面上硅烷醇基团的初始缩合的温度;对室大气施加真空以减少室大气压力;以及利用所述第一卡盘和所述第二卡盘,向所述第一晶片和所述第二晶片施加压缩力;由此从所述第一晶片和所述第二晶片之间的结合表面除去空气、污染物及硅烷醇缩合反应副产品分子并且去除所述第一晶片和所述第二晶片之间的边缘间隙。
下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于国际商业机器公司,未经国际商业机器公司许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服】
本文链接:http://www.vipzhuanli.com/patent/201410094056.8/,转载请声明来源钻瓜专利网。
- 同类专利
- 专利分类
H01 基本电气元件
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L21-00 专门适用于制造或处理半导体或固体器件或其部件的方法或设备
H01L21-02 .半导体器件或其部件的制造或处理
H01L21-64 .非专门适用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各组的单个器件所使用的除半导体器件之外的固体器件或其部件的制造或处理
H01L21-66 .在制造或处理过程中的测试或测量
H01L21-67 .专门适用于在制造或处理过程中处理半导体或电固体器件的装置;专门适合于在半导体或电固体器件或部件的制造或处理过程中处理晶片的装置
H01L21-70 .由在一共用基片内或其上形成的多个固态组件或集成电路组成的器件或其部件的制造或处理;集成电路器件或其特殊部件的制造
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L21-00 专门适用于制造或处理半导体或固体器件或其部件的方法或设备
H01L21-02 .半导体器件或其部件的制造或处理
H01L21-64 .非专门适用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各组的单个器件所使用的除半导体器件之外的固体器件或其部件的制造或处理
H01L21-66 .在制造或处理过程中的测试或测量
H01L21-67 .专门适用于在制造或处理过程中处理半导体或电固体器件的装置;专门适合于在半导体或电固体器件或部件的制造或处理过程中处理晶片的装置
H01L21-70 .由在一共用基片内或其上形成的多个固态组件或集成电路组成的器件或其部件的制造或处理;集成电路器件或其特殊部件的制造