[发明专利]一种基于背栅晶体管的抗辐照技术及实现方法

摘要

一种基于背栅晶体管的抗辐照技术及实现方法，首先输入边界扫描测试信号，检测输出信号，检测到的输出信号与理想输出信号比较，如果二者近似程度满足要求，则停止测试，如果二者相差较大，通过内建自优化器改变芯片内各个块的背栅偏置，调节各个块内晶体管的阈值电压，通过调解后再检测输出信号，这样一直重复，直至测试输出信号与理想输出信号最大程度接近。通过边界扫描测试检测，内建自优化器调节背栅偏置可有效抑制晶体管的阈值电压偏移，从而改善晶体管的性能,达到抗辐照的功能，且本发明的抗辐照技术具有集成度高，速度快，抗辐照能力强等特点，并且成本低，工艺简单，易于实现。

主权项

一种抗辐照器件结构，其特征在于，所述抗辐照器件结构包括一半导体衬底，且于该半导体衬底上还设置有一核心逻辑模块；所述核心逻辑模块包括若干偏置器件单元和一内建自优化器；每个所述偏置器件单元中均包括一背栅偏置和至少一晶体管，且每个所述偏置器件单元中的所有所述晶体管均设置在所述背栅偏置上；其中，所述内建自优化器分别与每个所述背栅偏置电连接，以通过所述背栅偏置调整设置在该背栅偏置上的晶体管的阈值电压。