[发明专利]ESD防护结构及方法在审

专利信息
申请号: 201410067807.7 申请日: 2014-02-26
公开(公告)号: CN103811488A 公开(公告)日: 2014-05-21
发明(设计)人: 蔡学明 申请(专利权)人: 上海和辉光电有限公司
主分类号: H01L27/02 分类号: H01L27/02;H01L21/82
代理公司: 上海申新律师事务所 31272 代理人: 吴俊
地址: 201506 上海市金山*** 国省代码: 上海;31
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摘要: 发明涉及显示器件的结构及其制备领域,尤其涉及一种ESD防护结构及方法,通过在器件制备工艺时,在器件区域制备具有导电性质的结构层的同时,于空旷区制备静电放电结构,将残存于器件区的载流子进行放电,并循环往复,以在每个具有导电性质的结构层的制备工艺时,均会对器件区域中残存的载流子进行一次放电,进而使得器件区域中的载流子不会大量聚集,避免形成过大的瞬间电流,进而有效的降低器件结构中静电击伤现象的发生的几率,提高了产品的性能和良率。
搜索关键词: esd 防护 结构 方法
【主权项】:
一种ESD防护结构,所述防护结构包括:半导体衬底,所述半导体衬底具有器件区和空旷区;静电释放结构,所述静电释放结构设置于所述半导体衬底的空旷区;导电层,所述导电层设置于所述半导体衬底的器件区;其中,所述导电层与所述静电释放结构连接,以将残存于所述空旷区的载流子通过所述静电释放结构进行放电。
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