[发明专利]测量颗粒材料体分形维数的激光粒度仪及其方法

摘要

本发明提供一种测量颗粒材料体分形维数的激光粒度仪及其方法，所要解决的问题是：目前颗粒材料体分维测量都是通过激光粒度仪测量相关的粒径数据，并经过繁琐的数学计算得到，不仅浪费人力物力，而且计算结果并不准确；本发明的技术要点是：至少一个激光器与一个由若干透镜组成的汇聚镜头分布在样品池一侧，汇聚镜头的焦平面上固定有光电探测器，光电探测器与数据处理系统连接；以及配合激光粒度仪使用的方法；本发明的积极效果是：提出一种测量颗粒体分形维数的新方法，并改进的现有激光粒度仪的结构配合上述方法使用，使激光粒度仪对颗粒体分型维数的测量能够直接读取结果。本发明还具有结构简单、操作简便、降低成本、可靠性高、示数准确等特点。

主权项

一种测量颗粒材料体分形维数的激光粒度仪，它包括透镜，其特征是：至少五个激光器组成的无影灯光源与一个由若干透镜组成的汇聚镜头分布在样品池一侧，汇聚镜头的焦平面上固定有光电探测器，光电探测器与数据处理系统连接；所述数据处理系统包括体分形维数计算模块；所述体分形维数计算模块包括：粒度曲线接收单元，用于接收激光粒度仪所测出的粒度曲线；粒度曲线判断单元，用于进行粒度曲线的分析和降噪处理，并对所测量颗粒粒径和累计百分率的数据进行筛选；体分形维数计算单元，根据筛选后的颗粒材料粒径和累计百分率用最小二乘法回归分析计算体分形维数；体分形维数储存和/或发送单元，用于储存和/或发送体分形维数值。