[发明专利]一种利用SAR卫星测量电离层TEC值的方法有效
申请号: | 201410022829.1 | 申请日: | 2014-01-17 |
公开(公告)号: | CN103792535A | 公开(公告)日: | 2014-05-14 |
发明(设计)人: | 王伟伟;王旭艳;黎薇萍;李财品;李光廷;朱雅琳;赵泓懿;刘波 | 申请(专利权)人: | 西安空间无线电技术研究所 |
主分类号: | G01S13/90 | 分类号: | G01S13/90 |
代理公司: | 中国航天科技专利中心 11009 | 代理人: | 安丽 |
地址: | 710100 陕*** | 国省代码: | 陕西;61 |
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摘要: | 本发明公开了一种利用SAR卫星测量电离层TEC值的方法。星载SAR发射脉冲信号穿越电离层后,其相位中包含传播路径上完整的电离层TEC信息。该方法从具有一定带宽的SAR信号中选取若干子频带,以提供相位解模糊所需的自由度。通过优化设计子频带参数等技术手段,在兼顾TEC值估计精度的同时,消除了电磁波传播距离相位对相位解模糊处理的影响。最后构建相位解模糊方程,最终实现对电离层TEC值的高精度估计。利用所估计的电离层TEC值对星载SAR回波相位进行补偿,能够有效提高星载SAR成像质量以及干涉测量精度。 | ||
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【主权项】:
1.一种利用SAR卫星测量电离层TEC值的方法,其特征在于包括如下步骤:(1)在地面布置SAR信号接收机用于接收SAR卫星发射的脉冲信号;(2)从步骤(1)接收到的SAR卫星脉冲信号中选取三个子频带信号,分别为子频带1、子频带2与子频带3,子频带1、子频带2与子频带3三个子频带信号的载波频率分别为f1,f2,f3,三个子频带的载波频率满足f3>f2>f1,且f2-f1=f3-f2=Δf;(3)将步骤(2)选取的三个子频带信号的频谱分别进行搬移,使其频谱中心频率均位于零频,然后分别利用匹配滤波对三个子频带信号进行脉冲压缩处理,得到三个子频带信号峰值点处的相位Φn(n=1,2,3);(4)根据步骤(3)得到的三个子频带信号峰值点处的相位Φn(n=1,2,3)计算子频带1与子频带2信号峰值点的干涉相位,计算公式为Φ12=angle[exp(jΦ1)×exp(-jΦ2)];计算子频带2与子频带3信号峰值点的干涉相位,计算公式为Φ23=angle[exp(jΦ2)×exp(-jΦ3)];其中定义angle[exp(j(α+2kπ))]=α,α∈[-π,π],k为整数,
(5)利用步骤(4)获得的干涉相位Φ12和Φ23求解电离层TEC值,计算公式如下:TEC = ( ( f 2 - f 1 ) Φ 23 - ( f 3 - f 2 ) Φ 12 ) c 2 π 40.3 ( ( f 2 - f 1 ) ( 1 f 2 - 1 f 3 ) - ( f 3 - f 2 ) ( 1 f 1 - 1 f 2 ) ) ]]> 其中,c为光速。
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