[实用新型]一种新型半导体电阻测试系统有效
| 申请号： | 201320386125.3 | 申请日： | 2013-06-27 |
| 公开（公告）号： | CN203350362U | 公开（公告）日： | 2013-12-18 |
| 发明（设计）人： | 卓彬;贺贤汉;吕庆鑫 | 申请（专利权）人： | 杭州大和热磁电子有限公司 |
| 主分类号： | G01R27/02 | 分类号： | G01R27/02;G01R21/14 |
| 代理公司： | 杭州杭诚专利事务所有限公司 33109 | 代理人： | 尉伟敏 |
| 地址： | 310053 浙*** | 国省代码： | 浙江;33 |
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| 摘要： | 本实用新型公开了一种新型半导体电阻测试系统，包括主机，主机外接温度采集器和若干台电阻测试器，主机包括中央处理器模块、人机交互模块、输入模块和电源模块，本实用新型同时对半导体电阻和环境温度进行测量，并将采集的数据送入主机进行后台分析修正电阻值，并得到电阻值的分布情况，消除了环境温度对电阻检测值的影响，能快速响应并高效处理数据，主机自动作出判定，检测过程省时省力，减少了数据的差错率，检测效率也得到极大提高。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 新型 半导体 电阻 测试 系统 | ||
【主权项】：
一种新型半导体电阻测试系统，特征在于：包括主机（1），所述主机外接温度采集器（2）和若干台电阻测试器（3），所述主机包括中央处理器模块、输入模块、人机交互模块和电源模块，所述输入模块与温度采集器和电阻测试器连接。
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