[发明专利]提高电离层双高斯模型中MIMO-OTH雷达检测性能的天线布置方法

摘要

本发明公开了一种提高电离层双高斯模型中MIMO-OTH雷达检测性能的天线布置方法，包括：利用了探测信号在到达接收端前经过两次电离层反射，每次的反射系数均服从复高斯随机分布，建立电离层双高斯反射模型，根据MQP模型由天线与目标之间的距离计算得到多径条数，通过对MIMO-OTH雷达的回波信号进行分析，构建电离层双高斯反射模型下的MIMO-OTH雷达信号模型，根据利用尼曼-皮尔逊准则和高斯最优检测器建立假设检验问题，通过计算统计量的累积分布函数，得到MIMO-OTH分集增益表达式和电离层双高斯模型下MIMO-OTH雷达目标检测的分集增益，通过选择合适的雷达天线位置改变多径条数，使雷达系统获得最大分集增益。本发明方法简单，操作方便，提高了雷达系统的检测性能。

主权项

一种提高电离层双高斯模型中MIMO‑OTH雷达检测性能的天线布置方法，其特征在于，该提高电离层双高斯模型中MIMO‑OTH雷达检测性能的天线布置方法包括以下步骤：步骤一，利用探测信号在到达接收端前经过两次电离层反射，每次的反射系数均服从复高斯随机分布，建立电离层双高斯反射模型；步骤二，通过对MIMO‑OTH雷达的回波信号进行分析，构建电离层双高斯反射模型下的MIMO‑OTH雷达信号模型；步骤三，根据利用尼曼‑皮尔逊准则和高斯最优检测器建立假设检验问题，通过计算统计量的累积分布函数，得到MIMO‑OTH雷达目标检测的分集增益表达式；步骤四，根据实际应用环境和条件，确定所有可行的MIMO‑OTH雷达天线布置方案；步骤五，对每一可行的MIMO‑OTH雷达天线布置方案，首先根据MQP模型由天线与目标之间的距离计算得到多径条数，然后根据步骤三得到的分集增益表达式，计算电离层双高斯模型下的MIMO‑OTH雷达的分集增益；步骤六，比较所有可行方案的分集增益的大小，选取分集增益最大的方案来对MIMO‑OTH雷达进行天线布置。