[发明专利]一种宇航元器件的成熟度综合评价方法在审

专利信息
申请号: 201310713062.2 申请日: 2013-12-23
公开(公告)号: CN103646147A 公开(公告)日: 2014-03-19
发明(设计)人: 刘辉;王文炎;张洪伟;张磊;王喆;唐民 申请(专利权)人: 中国空间技术研究院
主分类号: G06F17/50 分类号: G06F17/50
代理公司: 济南舜源专利事务所有限公司 37205 代理人: 李江
地址: 100080 *** 国省代码: 北京;11
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摘要: 本发明为一种宇航元器件的成熟度综合评价方法。该方法针对目前元器件生产厂设计验证不充分,宇航元器件鉴定技术能力不足的现状,提出一种基于成熟度模型的宇航元器件综合评价方法,对元器件性能指标进行数字等级量化,为确保宇航元器件的选用,提供判断方法。该专利首先确定宇航元器件成熟度的概念,然后对元器件成熟度的等级做出了明确划分,给出各等级划分的主要工作内容,再给出元器件的评价准则、综合评分方法、以及评价实施步骤,最后给出了元器件的成熟度提升程序,为宇航元器件产品性能的持续提升,提供重要的理论基础。
搜索关键词: 一种 宇航 元器件 成熟度 综合 评价 方法
【主权项】:
一种宇航元器件的成熟度综合评价方法,其特征在于包括:宇航元器件成熟度概念、宇航元器件成熟度等级划分、宇航元器件成熟度评价准则、宇航元器件成熟度评分方法、评估步骤、以及宇航元器件成熟度提升程序。
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