[发明专利]铜铟镓硒薄膜的制备方法有效

专利信息
申请号: 201310687514.4 申请日: 2013-12-12
公开(公告)号: CN103710668A 公开(公告)日: 2014-04-09
发明(设计)人: 熊治雨;肖旭东;杨春雷 申请(专利权)人: 深圳先进技术研究院;香港中文大学
主分类号: C23C14/24 分类号: C23C14/24;C23C14/06;H01L31/18
代理公司: 广州华进联合专利商标代理有限公司 44224 代理人: 吴平
地址: 518055 广东省深圳*** 国省代码: 广东;44
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摘要: 发明涉及一种铜铟镓硒薄膜的制备方法。该铜铟镓硒薄膜的制备方法包括步骤一为:在硒气氛中,共蒸镓和铟,使硒、镓和铟沉积于衬底上;步骤二为:提高衬底温度,在硒气氛中,蒸发铜,使硒和铜沉积于衬底上;步骤三为:保持衬底温度,在硒气氛中,共蒸镓和铟,形成铜铟镓硒薄膜。步骤一与步骤三的共蒸时间的比值为5:1~7:1。通过提高热镓和铟的蒸发温度加速薄膜沉积,设置步骤一和步骤三的蒸发量之间的配比关系,使铟更多地进入薄膜内部并增加薄膜表面的镓含量,显著地改善各元素的梯度分布,减少铜铟镓硒薄膜表面缺陷,提高铜铟镓硒薄膜的质量并降低能源消耗。
搜索关键词: 铜铟镓硒 薄膜 制备 方法
【主权项】:
一种铜铟镓硒薄膜的制备方法,包括如下步骤:步骤一:在硒气氛中,共蒸镓和铟,使硒、镓和铟沉积于衬底上;步骤二:提高衬底温度,在硒气氛中,蒸发铜,使硒和铜沉积于衬底上;步骤三:保持衬底温度,在硒气氛中,共蒸镓和铟,形成铜铟镓硒薄膜,其特征在于,所述步骤一的共蒸时间与所述步骤三的共蒸时间的比值为5:1~7:1。
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