[发明专利]一种亚稳态二氧化钒薄膜的制备方法有效

专利信息
申请号: 201310541130.1 申请日: 2013-11-05
公开(公告)号: CN103572209A 公开(公告)日: 2014-02-12
发明(设计)人: 顾正彬;张善涛;卢明辉;陈延峰 申请(专利权)人: 无锡英普林纳米科技有限公司
主分类号: C23C14/08 分类号: C23C14/08;C23C14/35
代理公司: 南京知识律师事务所 32207 代理人: 李媛媛
地址: 214192 *** 国省代码: 江苏;32
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摘要: 发明公开了一种亚稳态二氧化钒薄膜的制备方法,采用直流磁控溅射技术。包括以下步骤:(1)准备金属钒靶、氩气和氧气气体;磁控溅射仪至少包括样品准备腔和生长腔这两个真空腔室,生长腔室抽真空至4.5×10-4Pa以下;(2)只通入Ar气体,设定溅射功率,清洗金属钒靶表面的氧化部分和一些污染物杂质;(3)衬底加热并保温10分钟左右;(4)通入氩气和氧气气体,其比率为10:1,调节真空室压强在1Pa,启动射频溅射工作源,溅射功率为40W,开始溅射;(5)薄膜生长至要求厚度后,关闭加热电源,使样品自然冷却,在此过程,打开真空阀,分子泵保持打开状态。本发明制备的薄膜具有良好的结构和电阻-温度系数。
搜索关键词: 一种 亚稳态 氧化 薄膜 制备 方法
【主权项】:
一种亚稳态二氧化钒薄膜的制备方法,采用直流磁控溅射技术,其特征在于,包括以下步骤:(1)采用纯度较高的金属钒靶,准备氩气和氧气气体;磁控溅射仪至少包括样品准备腔和生长腔这两个真空腔室,生长腔室抽真空至4.5×10‑4Pa以下;(2)靶材预溅射:只通入Ar气体,设定溅射功率,清洗金属钒靶表面的氧化部分和一些污染物杂质;(3)衬底升温到要求温度,并保温10分钟左右,以达到平衡状态;(4)通入氩气和氧气气体,其比率为10:1,调节真空室压强在1Pa,启动射频溅射工作源,溅射功率为40W,开始溅射;(5)薄膜生长速率为200nm/h,生长至要求厚度后,关闭加热电源,使样品自然冷却,在此过程,打开真空阀,分子泵保持打开状态。
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