[发明专利]具有等离子体共振散射响应的纳米孔芯片的制备方法在审

专利信息
申请号: 201310471454.2 申请日: 2013-10-11
公开(公告)号: CN103512869A 公开(公告)日: 2014-01-15
发明(设计)人: 龙亿涛;顾震;李萌;应佚伦;周浩 申请(专利权)人: 华东理工大学
主分类号: G01N21/63 分类号: G01N21/63
代理公司: 上海翼胜专利商标事务所(普通合伙) 31218 代理人: 翟羽;曾人泉
地址: 200237 *** 国省代码: 上海;31
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摘要: 发明具有等离子体共振散射响应的纳米孔芯片的制备方法,其步骤包括:⑴芯片基材的选择,选择硅片为基材,在硅片正面沉积绝缘材料,反面没有绝缘材料;⑵利用湿法刻蚀法在硅片反面刻蚀正方形区域,直到纳米孔芯片薄膜在这一面裸露;⑶纳米孔刻蚀,利用聚焦离子束或聚焦电子束轰击纳米孔芯片薄膜,在纳米孔芯片薄膜上形成纳米小孔;⑷贵金属修饰,利用磁控溅射仪使纳米孔芯片薄膜表面镀上一层贵金属层。本发明的制备方法步骤简单,尺寸可控,成本较低;通过在纳米孔上的贵金属修饰,制备了一种同时具有光电响应纳米孔芯片,该纳米孔芯片能发生等离子体共振耦合现象,从而对光谱信号产生放大作用,可用于纳米孔电化学检测的较多领域。
搜索关键词: 具有 等离子体 共振 散射 响应 纳米 芯片 制备 方法
【主权项】:
1.一种具有等离子体共振散射响应的纳米孔芯片的制备方法,其特征在于,其步骤包括:(1)芯片基材的选择芯片基材选择厚100~500的硅片,在所述硅片的正面沉积厚5~150nm的绝缘材料,所述绝缘材料为氮化硅、氧化铝或二氧化硅的一种;在所述硅片的反面没有绝缘材料;(2)芯片的制作利用湿法刻蚀法在步骤(1)所述硅片的反面刻蚀一个边长100~500的正方形区域,一直刻蚀到绝缘材料层为止,刻蚀后的正方形区域即为纳米孔芯片薄膜;(3)纳米孔刻蚀利用聚焦离子束或聚焦电子束轰击步骤(2)所述的纳米孔芯片薄膜,使所述纳米孔芯片薄膜上形成纳米小孔,所述小孔的孔径在20~100nm;(4)贵金属修饰利用磁控溅射仪在真空度0.1-10 Pa、功率为1-40 W/cm2的条件下对步骤(3)所述的纳米小孔镀膜5~30分钟,从而使步骤(2)所述的纳米孔芯片薄膜表面镀上一层10~50nm厚的贵金属层;所述贵金属修饰采用的靶材为金或者银或者铜。
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