[发明专利]MCP单元、MCP检测器和飞行时间型质谱分析器在审
申请号: | 201310470442.8 | 申请日: | 2013-10-10 |
公开(公告)号: | CN103730323A | 公开(公告)日: | 2014-04-16 |
发明(设计)人: | 铃木章夫;鹫山雄哉 | 申请(专利权)人: | 浜松光子学株式会社 |
主分类号: | H01J43/04 | 分类号: | H01J43/04;H01J43/10;H01J49/02;H01J49/40 |
代理公司: | 北京尚诚知识产权代理有限公司 11322 | 代理人: | 杨琦 |
地址: | 日本*** | 国省代码: | 日本;JP |
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摘要: | 本发明的MPC单元具有具备了不依赖于MCP的通道直径所引起的限制而实现所期望的时间响应特性的构造的三极管构造,具备MCP群、第1电极、第2电极、阳极、以及加速电极。特别地,该MCP单元具备用于将响应于来自MCP群的二次电子的入射而从阳极放出的反射电子局限在加速电极与阳极之间的空间的电子透镜构造。 | ||
搜索关键词: | mcp 单元 检测器 飞行 时间 谱分析 | ||
【主权项】:
一种MCP单元,其特征在于,具备:微通道板,是配置在与该MCP单元的中心轴交叉的平面上的、响应于沿着所述中心轴移动的荷电粒子的入射而放出在内部被倍增的二次电子的微通道板,具有该荷电粒子被入射的入射面、以及与该入射面相对并且将该二次电子出射的出射面;第1电极,是接触于所述微通道板的入射面的第1电极,并设定为第1电位;第2电极,是接触于所述微通道板的出射面的第2电极,并设定为比所述第1电位高的第2电位;阳极,是在与所述中心轴交叉的状态下配置在从所述微通道板的出射面放出的二次电子到达的位置的阳极,并设定为比所述第2电位高的第3电位;加速电极,是配置在所述微通道板与所述阳极之间的加速电极,并设定为比所述第2电位高的第4电位,并且具有用于使从所述微通道板的出射面朝向所述阳极的二次电子通过的多个开口;以及电子透镜构造,用于以将响应于来自所述微通道板的二次电子的入射而从所述阳极放出的反射电子局限在所述加速电极与所述阳极之间的空间内的方式,控制从所述微通道板朝向所述阳极的二次电子的轨道。
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