[发明专利]一种图像处理方法和装置

摘要

本发明提供了一种图像处理方法和装置，该方法包括控制光投射器向待摄取对象的表面投射多条纹结构光和点结构光，以在待摄取对象的表面形成多条光条纹，并在光条纹之间形成多个光点；通过图像传感器采集表面具有光条纹和光点的待摄取对象的目标图像；获取包含该光条纹和光点的参考图像；根据参考图像中光条纹的特征信息和目标图像中光条纹的特征信息，计算目标图像中每条光条纹位置处的第一深度值；根据参考图中光点的特征信息和目标图像中光点的特征信息，计算目标图像中每个光点位置处的第二深度值；根据目标图像中光条纹位置处的第一深度值和光点位置处的第二深度值，生成目标图像的深度图。该方法可以提高生成的深度图的分辨率。

主权项

一种图像处理方法，其特征在于，应用于电子设备，该电子设备至少包括图像传感器和光投射器，包括：控制所述光投射器向待摄取对象的表面投射多条纹结构光和点结构光，以在所述待摄取对象的表面形成多条光条纹，并在所述光条纹之间形成多个光点；通过所述图像传感器采集表面具有所述光条纹和所述光点的所述待摄取对象的目标图像；获取包含所述光条纹和所述光点的参考图像；根据所述参考图像中光条纹的特征信息和所述目标图像中光条纹的特征信息，计算所述目标图像中每条光条纹位置处的第一深度值；根据所述参考图像中光点的特征信息和所述目标图像中光点的特征信息，计算所述目标图像中每个光点位置处的第二深度值；根据所述目标图像中光条纹位置处的第一深度值和光点位置处的第二深度值，生成所述目标图像的深度图；其中，所述根据所述参考图像中光条纹的特征信息和所述目标图像中光条纹的特征信息，计算所述目标图像中每条光条纹位置处的第一深度值，包括：将所述目标图像中的光条纹与所述参考图像中的光条纹进行匹配，得到多对条纹匹配对，其中，每对所述条纹匹配对中均包括所述目标图像中的目标光条纹和所述参考图像中的参考光条纹；对于每对条纹匹配对，根据所述条纹匹配对中的目标光条纹和参考光条纹的特征信息，计算所述目标光条纹相对于所述参考光条纹的第一视差；根据所述第一视差，计算所述目标图像中所述目标光条纹位置处的第一深度值；所述根据所述参考图像中光点的特征信息和所述目标图像中光点的特征信息，计算所述目标图像中每个光点位置处的第二深度值，包括：将所述目标图像中的光点与所述参考图像中的光点进行匹配，得到多对光点匹配对，其中，每对所述光点匹配对中均包括所述目标图像中的第一光点和所述参考图像中的第二光点；对于每对光点匹配对，根据所述光点匹配对中的第一光点和第二光点的特征信息，计算所述第一光点相对于所述第二光点的第二视差；根据所述第二视差，计算所述目标图像中所述第一光点位置处的第二深度值。