[发明专利]光脉冲红外热成像测量涂层厚度的方法

摘要

光脉冲红外热成像测量涂层厚度的方法，涉及一种测量涂层厚度的方法。为了解决目前采用测量涂层厚度的方法对测量的材料特性具有局限性的问题。采用脉冲加热设备在两种不同的脉冲强度下对被测涂层结构构件进行加热，并使用红外热像仪在相同采样频率f_s下采集被测涂层结构构件表面的热图序列T₁(x,y,N)和T₂(x,y,N)；将获得的两个热图序列相减，求得热波信号△T=T₂(x,y,N)-T₁(x,y,N)；对所有像素点的热波信号与采集帧数之间的关系进行线性拟合，得到△T(x,y,N)=aN+b；根据获得的a和b，结合公式求出被测涂层结构构件的涂层厚度e_c。它用于测量涂层结构构件的涂层厚度。

主权项

1.光脉冲红外热成像测量涂层厚度的方法，其特征在于，步骤一：采用脉冲加热设备在脉冲强度Q₁下对被测涂层结构构件（1）进行加热，同时使用红外热像仪（3）在采样频率f_s下采集被测涂层结构构件（1）表面的热图序列T₁(x,y,N)，其中x×y为红外热像仪像素点数，N为采集的图像帧数；步骤二：采用脉冲加热设备在脉冲强度Q₂下对被测涂层结构构件（1）进行加热，同时使用红外热像仪（3）在采样频率f_s下采集被测涂层结构构件（1）表面的热图序列T₂(x,y,N)；步骤三：将获得的热图序列T₂(x,y,N)和热图序列T₁(x,y,N)相减，获得热波信号△T=T₂(x,y,N)-T₁(x,y,N)；步骤四：对所有像素点的热波信号△T(x,y,N)与采集帧数N之间的关系进行线性拟合，得到△T(x,y,N)=aN+b；步骤五：根据步骤四获得的a和b，结合公式求出被测涂层结构构件（1）的涂层厚度e_c，其中α_c为涂层的热扩散系数。