[发明专利]TFT-LCD阵列基板的制造方法有效
申请号: | 201310439974.5 | 申请日: | 2013-09-24 |
公开(公告)号: | CN103474396A | 公开(公告)日: | 2013-12-25 |
发明(设计)人: | 柴立 | 申请(专利权)人: | 深圳市华星光电技术有限公司 |
主分类号: | H01L21/77 | 分类号: | H01L21/77;G02F1/1333;G03F7/00 |
代理公司: | 深圳市铭粤知识产权代理有限公司 44304 | 代理人: | 杨林;马翠平 |
地址: | 518132 广东*** | 国省代码: | 广东;44 |
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摘要: | 本发明公开一种TFT-LCD阵列基板的制造方法,其包括步骤:a)在玻璃基板上形成栅电极、栅电极绝缘层、有源层、有源层上的源电极和漏电极、钝化层以及位于漏电极上方的钝化层过孔;b)在完成步骤a)的玻璃基板上沉积导电薄膜,并在导电薄膜上涂布光刻胶,通过曝光、显影后将TFT区域除钝化层过孔处之外的光刻胶去除,并将像素区域要形成间隔处的部分光刻胶去除,进而将TFT区域除钝化层过孔处之外的导电薄膜暴露;c)采用第四次干法刻蚀将像素区域要形成间隔处剩余的光刻胶去除,进而将该像素区域要形成间隔处的导电薄膜暴露;d)采用第三次湿法刻蚀将暴露出的导电薄膜去除;e)剥离未除去的光刻胶,形成导电电极,并使导电电极与钝化层过孔连接。 | ||
搜索关键词: | tft lcd 阵列 制造 方法 | ||
【主权项】:
一种TFT‑LCD阵列基板的制造方法,其特征在于,所述制造方法包括步骤:a)在玻璃基板(21)上形成栅电极(22)、栅电极绝缘层(23)、由非晶硅层(24)和欧姆接触层(25)组成的有源层、有源层上的源电极(26a)和漏电极(26b)、钝化层(29)以及位于漏电极(26b)上方的钝化层过孔(28);b)在完成步骤a)的玻璃基板(21)上沉积导电薄膜,并在导电薄膜上涂布光刻胶,通过曝光、显影后将TFT区域除钝化层过孔(28)处之外的光刻胶去除,并将像素区域要形成间隔(271)处的部分光刻胶去除,进而将TFT区域除钝化层过孔(28)处之外的导电薄膜暴露;c)采用第四次干法刻蚀将步骤b)中像素区域要形成间隔(271)处剩余的光刻胶去除,进而将该像素区域要形成间隔(271)处的导电薄膜暴露;d)采用第三次湿法刻蚀将步骤b)和步骤c)中暴露出的导电薄膜去除;e)剥离未除去的光刻胶,形成导电电极(27),并使导电电极(27)与钝化层过孔(28)连接。
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H01 基本电气元件
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L21-00 专门适用于制造或处理半导体或固体器件或其部件的方法或设备
H01L21-02 .半导体器件或其部件的制造或处理
H01L21-64 .非专门适用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各组的单个器件所使用的除半导体器件之外的固体器件或其部件的制造或处理
H01L21-66 .在制造或处理过程中的测试或测量
H01L21-67 .专门适用于在制造或处理过程中处理半导体或电固体器件的装置;专门适合于在半导体或电固体器件或部件的制造或处理过程中处理晶片的装置
H01L21-70 .由在一共用基片内或其上形成的多个固态组件或集成电路组成的器件或其部件的制造或处理;集成电路器件或其特殊部件的制造
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L21-00 专门适用于制造或处理半导体或固体器件或其部件的方法或设备
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H01L21-64 .非专门适用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各组的单个器件所使用的除半导体器件之外的固体器件或其部件的制造或处理
H01L21-66 .在制造或处理过程中的测试或测量
H01L21-67 .专门适用于在制造或处理过程中处理半导体或电固体器件的装置;专门适合于在半导体或电固体器件或部件的制造或处理过程中处理晶片的装置
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