[发明专利]光学测量装置和光学测量微芯片无效
| 申请号： | 201310439608.X | 申请日： | 2013-09-24 |
| 公开（公告）号： | CN103712964A | 公开（公告）日： | 2014-04-09 |
| 发明（设计）人： | 甲斐慎一 | 申请（专利权）人： | 索尼公司 |
| 主分类号： | G01N21/64 | 分类号： | G01N21/64;B01L3/00 |
| 代理公司： | 北京康信知识产权代理有限责任公司 11240 | 代理人： | 余刚;吴孟秋 |
| 地址： | 日本*** | 国省代码： | 日本;JP |
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| 摘要： | 本发明公开了光学测量装置和光学测量微芯片。其中，该光学测量装置包括控制单元，该控制单元基于检测光量校准区域的光学信息补偿在微芯片的反应区域中生成的检测光。 | ||
| 搜索关键词： | 光学 测量 装置 芯片 | ||
【主权项】：
一种光学测量装置，包括：控制单元，基于来自检测光量校准区域的光学信息补偿从微芯片中的反应区域生成的检测光。
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