[发明专利]劣化分析法以及化学态测量法有效
| 申请号： | 201310429775.6 | 申请日： | 2013-09-18 |
| 公开（公告）号： | CN103712999B | 公开（公告）日： | 2018-08-17 |
| 发明（设计）人： | 金子房惠;岸本浩通 | 申请（专利权）人： | 住友橡胶工业株式会社 |
| 主分类号： | G01N23/06 | 分类号： | G01N23/06 |
| 代理公司： | 上海市华诚律师事务所 31210 | 代理人： | 杜娟 |
| 地址： | 日本国兵库县神户*** | 国省代码： | 日本;JP |
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| 摘要： |
本发明提供能够详细分析聚合物材料的劣化、特别是具有低导电率的聚合物材料的表面状态的劣化的劣化分析法。本发明涉及劣化分析法，其包括：用高强度X射线辐照其上形成有厚度为 |
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| 搜索关键词： | 化分 以及 化学 测量 | ||
【主权项】：
1.劣化分析法，其包括：用辉度为至少1010光子/s/mrad2/mm2/0.1％bw的高强度X‑射线辐照其上形成有厚度为![]()
以下金属涂层的聚合物材料，以及在改变X‑射线能量的同时测定X‑射线吸收，从而分析聚合物的劣化，其中X‑射线吸收的测定通过NEXAFS测量法进行。
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