[发明专利]用于处理包括半导体材料的半导体层的方法有效
申请号: | 201310388773.7 | 申请日: | 2013-08-30 |
公开(公告)号: | CN103681956B | 公开(公告)日: | 2017-06-09 |
发明(设计)人: | D.F.富斯特;R.A.加伯;W.K.梅茨格尔;R.舒巴;曹洪波;S.D.菲尔德曼-皮博迪;L.A.克拉克;单英辉 | 申请(专利权)人: | 通用电气公司 |
主分类号: | H01L31/18 | 分类号: | H01L31/18 |
代理公司: | 中国专利代理(香港)有限公司72001 | 代理人: | 姜甜,汤春龙 |
地址: | 美国*** | 国省代码: | 暂无信息 |
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摘要: | 本发明提供一种用于处理包括半导体材料的半导体层的方法。所述方法包括使所述半导体材料的至少一部分与钝化剂接触。所述方法进一步包括通过将掺杂剂引入所述半导体材料中而在所述半导体层中形成第一区域;以及形成富含硫族元素的区域。所述方法进一步包括在所述半导体层中形成第二区域,所述第二区域包括掺杂剂,其中所述第二区域中掺杂剂的平均原子浓度大于所述第一区域中掺杂剂的平均原子浓度。 | ||
搜索关键词: | 用于 处理 包括 半导体材料 半导体 方法 | ||
【主权项】:
一种用于处理包括半导体材料的半导体层的方法,所述方法包括:(a)使所述半导体材料的至少一部分与钝化剂接触,其中所述半导体材料包括硫族化物;(b)通过将掺杂剂引入所述半导体材料中,在所述半导体层中形成第一区域;(c)形成富含硫族元素的区域;以及(d)在所述半导体层中形成第二区域,所述第二区域包括掺杂剂,其中所述第一区域设置在层内并且所述第二区域设置在接近所述第一区域的层内,并且其中所述第二区域中掺杂剂的平均原子浓度大于所述第一区域中掺杂剂的平均原子浓度。
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H01 基本电气元件
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L31-00 对红外辐射、光、较短波长的电磁辐射,或微粒辐射敏感的,并且专门适用于把这样的辐射能转换为电能的,或者专门适用于通过这样的辐射进行电能控制的半导体器件;专门适用于制造或处理这些半导体器件或其部件的方法或
H01L31-02 .零部件
H01L31-0248 .以其半导体本体为特征的
H01L31-04 .用作转换器件的
H01L31-08 .其中的辐射控制通过该器件的电流的,例如光敏电阻器
H01L31-12 .与如在一个共用衬底内或其上形成的,一个或多个电光源,如场致发光光源在结构上相连的,并与其电光源在电气上或光学上相耦合的
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
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