[发明专利]一种掩埋式势垒分压场效应管及其生产方法有效
申请号: | 201310305389.6 | 申请日: | 2013-07-19 |
公开(公告)号: | CN104299906A | 公开(公告)日: | 2015-01-21 |
发明(设计)人: | 李勇昌;彭顺刚;邹锋;王常毅 | 申请(专利权)人: | 桂林斯壮微电子有限责任公司 |
主分类号: | H01L21/336 | 分类号: | H01L21/336;H01L29/78;H01L29/06 |
代理公司: | 桂林市持衡专利商标事务所有限公司 45107 | 代理人: | 陈跃琳 |
地址: | 541004 广西壮族自*** | 国省代码: | 广西;45 |
权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
摘要: | 本发明公开一种掩埋式势垒分压场效应管及其生产方法,其在外延层上根据耐压的需要确定向下挖槽的深度,提前掩埋分压势垒,并以与栅极相似的网格结构连接到源极,分两层制作高压功率场效应器件,当源极(Source)和漏极(Drain)有电压(不导通)时,掩埋的势垒之间形成耗尽层(在两者之间形成空乏区),起到耐压的作用。同时,上述结构中掩埋分压势垒和上面的沟槽的栅极(Gate)形成耗尽层(在两者之间形成空乏区),可以大幅消除Gate和Drain之间的电容,可以大幅减少Gate开关时的充电时间(Qg可以大幅降低),从而提高了MOS管的开关速度。 | ||
搜索关键词: | 一种 掩埋 式势垒分 压场 效应 及其 生产 方法 | ||
【主权项】:
一种掩埋式势垒分压场效应管的生产方法,其特征是包括如下步骤:(1)在N+衬底(2)上生长N型外延层;(2)在生长的N型外延层内蚀刻网格状的掩埋沟槽,并在生长的N型外延层的上表面和掩埋沟槽内生长二氧化硅氧化层(3‑3);(3)在生长有二氧化硅氧化层(3‑3)的掩埋沟槽中沉积金属或多晶硅作为良导体(3‑2),并从本功率场效应管的边缘将该良导体(3‑2)连接到源极;(4)用硼磷硅玻璃填平沉积有良导体(3‑2)的掩埋沟槽,腐蚀二氧化硅氧化层(3‑3),由此在N+衬底(2)上方第一N型外延层内形成了掩埋层(3);(5)在掩埋层(3)上再次生长N型外延层;(6)在再次生长的N型外延层内蚀刻网格状的栅极沟槽,并在再次生长的N型外延层的上表面和栅极沟槽内生长栅氧化层(4‑2);(7)在生长有栅氧化层(4‑2)的栅极沟槽中沉积多晶硅栅极(4‑3);(8)将硼离子注入到栅极四周再次生长的N型外延层上表面,并将硼离子扩散推结形成体区(4‑4);(9)在体区(4‑4)的表面光刻源区(4‑5)图形,并将硼离子注入到栅极四周的体区(4‑4)上表面,并扩散推结形成源区(4‑5);(10)在全部上表面即栅极、源区(4‑5)和体区(4‑4)的上表面沉积硼磷硅玻璃,由此在掩埋层(3)上形成工作层(4);(11)在工作层(4)的硼磷硅玻璃上光刻并腐蚀出接触孔(5‑1),并通过蒸发或溅射金属铝的方法反刻出本功率场效应管的栅极和源极的焊区(5);(12)减薄N+衬底(2),并在减薄的N+衬底(2)下表面背金形成功率场效应管的漏极。
下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于桂林斯壮微电子有限责任公司,未经桂林斯壮微电子有限责任公司许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服】
本文链接:http://www.vipzhuanli.com/patent/201310305389.6/,转载请声明来源钻瓜专利网。
- 上一篇:一种电子快照处理方法和装置
- 下一篇:一种基于深度神经网络的跨媒体排序方法
- 同类专利
- 专利分类
H01 基本电气元件
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L21-00 专门适用于制造或处理半导体或固体器件或其部件的方法或设备
H01L21-02 .半导体器件或其部件的制造或处理
H01L21-64 .非专门适用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各组的单个器件所使用的除半导体器件之外的固体器件或其部件的制造或处理
H01L21-66 .在制造或处理过程中的测试或测量
H01L21-67 .专门适用于在制造或处理过程中处理半导体或电固体器件的装置;专门适合于在半导体或电固体器件或部件的制造或处理过程中处理晶片的装置
H01L21-70 .由在一共用基片内或其上形成的多个固态组件或集成电路组成的器件或其部件的制造或处理;集成电路器件或其特殊部件的制造
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L21-00 专门适用于制造或处理半导体或固体器件或其部件的方法或设备
H01L21-02 .半导体器件或其部件的制造或处理
H01L21-64 .非专门适用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各组的单个器件所使用的除半导体器件之外的固体器件或其部件的制造或处理
H01L21-66 .在制造或处理过程中的测试或测量
H01L21-67 .专门适用于在制造或处理过程中处理半导体或电固体器件的装置;专门适合于在半导体或电固体器件或部件的制造或处理过程中处理晶片的装置
H01L21-70 .由在一共用基片内或其上形成的多个固态组件或集成电路组成的器件或其部件的制造或处理;集成电路器件或其特殊部件的制造