[发明专利]一种光电子器件的光学参数检测装置与方法有效
| 申请号： | 201310302142.9 | 申请日： | 2013-07-18 |
| 公开（公告）号： | CN103364179A | 公开（公告）日： | 2013-10-23 |
| 发明（设计）人： | 阳波;李彦文;唐文胜;王胜春;尹丹;杨林 | 申请（专利权）人： | 湖南师范大学 |
| 主分类号： | G01M11/02 | 分类号： | G01M11/02;G01R31/00 |
| 代理公司： | 长沙新裕知识产权代理有限公司 43210 | 代理人： | 赵登高 |
| 地址： | 410006 湖*** | 国省代码： | 湖南;43 |
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| 摘要： | 本发明公开了一种光电子器件的光学参数检测装置和方法，该检测装置的两台2×N光开关布置在试验箱旁，并通过光纤与放置在试验箱中的光电子器件样品相联，另外一侧光路通过2×2光开关与偏振控制器相联和光功率计相联；1×N光开关通波分复用器与宽带光源，再通过光耦合器与偏振控制器、回损仪相联。本发明采用多波长光源，提高了该装置多波长光学参数测试的能力，降低了测试设备的成本；采用2×N光开关和光纤终止器构造回损测试光路，实现样品回损的在线测量；实现光电子器件双向光学参数的自动化检测，提高了光学参数测试效率和一致性；计算机实时记录试验箱、光功率计、回损仪的数据，实现光学参数测量的自动化。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 光电子 器件 光学 参数 检测 装置 方法 | ||
【主权项】：
一种光电子器件的光学参数检测装置，包括试验箱（1）、偏振控制器（5）、光耦合器（6）、1×N光开关（7）、光功率计（12）、光线（15）、光纤终止器（13），其特征在于：试验箱（1）两旁分别布置一台2×N光开关（3），试验样品（2）通过光纤（15）与两台2×N光开关（3）的端口相连；还包括2×2光开关（4）、控制器（14）、电路（16），计算机（17），以及由波分复用器（9）、宽带光源（10）、1×N光开关（7）、光纤终止器（13）、单色波激光光源（11）构成多波长选择光源；所述计算机（17）通过电学接口，由电路（16）与实验箱（1）、回损仪（8）和光功率计（12）相联；所述控制器（14）分别与计算机（17）、2×N光开关（3）、2×2光开关（4）、偏振控制（5）相联。
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