[发明专利]解析存储器操作类型错误的方法及其装置有效
| 申请号： | 201310276091.7 | 申请日： | 2013-07-03 |
| 公开（公告）号： | CN103345942A | 公开（公告）日： | 2013-10-09 |
| 发明（设计）人： | 柯遥;魏文;蔡恩静;李强 | 申请（专利权）人： | 上海华力微电子有限公司 |
| 主分类号： | G11C29/08 | 分类号： | G11C29/08 |
| 代理公司： | 上海天辰知识产权代理事务所(特殊普通合伙) 31275 | 代理人： | 吴世华;林彦之 |
| 地址： | 201210 上海市浦*** | 国省代码： | 上海;31 |
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| 摘要： | 本发明公开了一种解析存储器操作类型错误的方法及其装置，属于半导体技术领域，其方法包括：通过建立不同错误类型的操作错误与对应操作电压的对应关系；并在不同的操作电压下对存储器进行操作，获得对所述存储器进行操作时对应的多个操作错误；最后，根据对所述存储器进行操作时对应的多个操作错误，辨析不同操作错误的错误类型。本发明通过上述方法实现了使用一套成体系的方案，从而分析出不同类型的存储器操作错误。 | ||
| 搜索关键词： | 解析 存储器 操作 类型 错误 方法 及其 装置 | ||
【主权项】：
一种解析存储器操作类型错误的方法，其特征在于，包括：建立不同错误类型的操作错误与对应操作电压的对应关系；在不同的操作电压下对存储器进行操作，获得对所述存储器进行操作时对应的多个操作错误；根据对所述存储器进行操作时对应的多个操作错误，辨析不同操作错误的错误类型。
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