[发明专利]一种新型二轴激光扫描方法与装置有效
申请号: | 201310243835.5 | 申请日: | 2013-06-20 |
公开(公告)号: | CN103324208A | 公开(公告)日: | 2013-09-25 |
发明(设计)人: | 王建军;王新秋;刘吉东;王伟 | 申请(专利权)人: | 山东理工大学 |
主分类号: | G05D3/20 | 分类号: | G05D3/20;G01B11/24 |
代理公司: | 暂无信息 | 代理人: | 暂无信息 |
地址: | 255086 山东省淄博*** | 国省代码: | 山东;37 |
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摘要: | 一种新型二轴激光扫描装置,利用压电晶体的逆压电效应产生变形,驱动安装在机械放大机构上的大面积扫描镜产生x轴和y轴转动,实现对激光脉冲的反射和扫描。扫描镜的二轴转角运动规律由单片机系统设定,由光纤位移传感器和光电轴角编码器分别测量扫描镜绕x轴和y轴的实际转角,经A/D芯片反馈回单片机系统。在单片机系统中,设定的扫描镜x轴和y轴理想输出转角与反馈的x轴和y轴实际转角分别相比较,获得两轴转角的控制误差,通过PID控制运算,产生对扫描镜x轴和y轴的转角控制信号。通过D/A芯片输出控制电压,经直流电压放大电路进行电压放大,施加在压电晶体组上,使压电晶片组产生要求的变形量,从而使扫描镜根据控制需要而转动相应的角度。 | ||
搜索关键词: | 一种 新型 激光 扫描 方法 装置 | ||
【主权项】:
一种新型二轴激光扫描装置,其特征在于包括压电晶体(11)、机械放大机构(12)、扫描镜(13)、激光测距仪(14)、非接触测量转角传感器(15)、A/D芯片(16)、单片机系统(17)、D/A芯片(18)、直流电压放大电路(19)、直流稳压电源(20);所述压电晶体(11),其特征在于包括x轴左压电晶片组(111)、 x轴右压电晶片组(112)、y轴左压电晶片组(113)、y轴右压电晶片组(114);所述压电晶体(11)根据逆压电效应工作,在其上下表面施加电压产生电场时,所述压电晶体(11)产生机械变形;所述机械放大机构(12)采用杠杆放大原理,将所述压电晶体(11)的机械变形转化为所述扫描镜(13)端部的较大位移;所述机械放大机构(12),其特征在于包括支撑外壳(121)、内支撑框架(122)、扫描镜 x轴转轴(123)、扫描镜x轴驱动右支杆(124)、连接铰链(125)、扫描镜 x轴驱动左支杆(126)、扫描镜y轴驱动右支杆(127)、扫描镜y轴驱动左支杆(128);所述扫描镜(13)反射由所述激光测距仪(14)发出的激光脉冲,射向被扫描目标;所述非接触测量转角传感器(15),其特征在于包括y轴转角测量传感器(151)和x轴转角测量传感器(152);所述直流电压放大电路(19),其特征在于包括x轴直流电压放大电路(191)和y轴直流电压放大电路(192);所述直流稳压电源(20)给所述直流电压放大电路(19)提供高精度的稳压电源;所述非接触测量转角传感器(15)用于测量所述扫描镜(13)的x轴和y轴的实际转角大小,经所述A/D芯片(16)反馈回所述单片机系统(17)中;所述扫描镜(13)的x轴和y轴设定的的理想输出转角与由所述非接触测量转角传感器(15)反馈回来的x轴和y轴的实际转角分别相比较,获得两轴的转角控制误差值,在所述单片机系统(17)中通过软件编程进行PID控制运算,产生x轴和y轴两路控制信号,经所述D/A芯片(18)输出两路控制电压,提供给所述x轴直流电压放大电路(191)和所述y轴直流电压放大电路(192)进行电压放大,分别施加在所述x轴左压电晶片组(111)和 x轴右压电晶片组(112)、y轴左压电晶片组(113)和y轴右压电晶片组(114)上,使压电晶片的变形量根据控制需要而精确变化,从而使所述扫描镜(13)分别绕x轴和y轴转动设定的角度。
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