[发明专利]测试路径选择方法及相应的晶片测试方法有效

专利信息
申请号: 201310217761.8 申请日: 2013-06-03
公开(公告)号: CN103344896A 公开(公告)日: 2013-10-09
发明(设计)人: 蒋登峰 申请(专利权)人: 杭州士兰微电子股份有限公司
主分类号: G01R31/26 分类号: G01R31/26;H01L21/66
代理公司: 上海思微知识产权代理事务所(普通合伙) 31237 代理人: 郑玮
地址: 310012*** 国省代码: 浙江;33
权利要求书: 查看更多 说明书: 查看更多
摘要: 发明提供一种测试路径选择方法,包括:在提供的一晶片形成有效管芯和无效管芯;形成晶片映射图;在晶片映射图上根据晶片的有效管芯和无效管芯的位置标示出有效管芯和无效管芯的位置;在晶片映射图的管芯上将一多电路块针卡图重复排列并填充满晶片映射图,多电路块针卡图至少包括第一针卡标示和第二针卡标示;在晶片映射图上剔除掉完全占用无效管芯的多电路块针卡图,保留至少占用一有效管芯的多电路块针卡图;把晶片映射图上留下的每个多电路块针卡图中的第一标示对应的管芯连成一条直线,得到测试路径。本发明还提供一晶片测试方法。本发明实现了减少测试中针卡走位的距离,节约针卡走位的时间,提高晶片的测试效率。
搜索关键词: 测试 路径 选择 方法 相应 晶片
【主权项】:
一种测试路径选择方法,其特征在于,包括如下步骤:提供一晶片,所述晶片形成有管芯,所述管芯包括有效管芯和无效管芯;形成与所述晶片的管芯一一对应的晶片映射图;采用探针识别所述晶片的有效管芯和无效管芯的位置,在所述晶片映射图上根据所述晶片的有效管芯和无效管芯的位置标示出有效管芯和无效管芯的位置;在所述晶片映射图的管芯上根据一多电路块针卡图重复排列,使所述多电路块针卡图填充满所述晶片映射图,所述多电路块针卡图至少包括第一针卡标示和第二针卡标示;在所述晶片映射图上剔除掉完全占用所述无效管芯的多电路块针卡图,保留至少占用一所述有效管芯的多电路块针卡图;把所述晶片映射图上留下的每个多电路块针卡图中的第一标示对应的管芯连成一条直线,得到测试路径。
下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。

该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于杭州士兰微电子股份有限公司,未经杭州士兰微电子股份有限公司许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服

本文链接:http://www.vipzhuanli.com/patent/201310217761.8/,转载请声明来源钻瓜专利网。

×

专利文献下载

说明:

1、专利原文基于中国国家知识产权局专利说明书;

2、支持发明专利 、实用新型专利、外观设计专利(升级中);

3、专利数据每周两次同步更新,支持Adobe PDF格式;

4、内容包括专利技术的结构示意图流程工艺图技术构造图

5、已全新升级为极速版,下载速度显著提升!欢迎使用!

请您登陆后,进行下载,点击【登陆】 【注册】

关于我们 寻求报道 投稿须知 广告合作 版权声明 网站地图 友情链接 企业标识 联系我们

钻瓜专利网在线咨询

周一至周五 9:00-18:00

咨询在线客服咨询在线客服
tel code back_top