[发明专利]测试路径选择方法及相应的晶片测试方法有效
申请号: | 201310217761.8 | 申请日: | 2013-06-03 |
公开(公告)号: | CN103344896A | 公开(公告)日: | 2013-10-09 |
发明(设计)人: | 蒋登峰 | 申请(专利权)人: | 杭州士兰微电子股份有限公司 |
主分类号: | G01R31/26 | 分类号: | G01R31/26;H01L21/66 |
代理公司: | 上海思微知识产权代理事务所(普通合伙) 31237 | 代理人: | 郑玮 |
地址: | 310012*** | 国省代码: | 浙江;33 |
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摘要: | 本发明提供一种测试路径选择方法,包括:在提供的一晶片形成有效管芯和无效管芯;形成晶片映射图;在晶片映射图上根据晶片的有效管芯和无效管芯的位置标示出有效管芯和无效管芯的位置;在晶片映射图的管芯上将一多电路块针卡图重复排列并填充满晶片映射图,多电路块针卡图至少包括第一针卡标示和第二针卡标示;在晶片映射图上剔除掉完全占用无效管芯的多电路块针卡图,保留至少占用一有效管芯的多电路块针卡图;把晶片映射图上留下的每个多电路块针卡图中的第一标示对应的管芯连成一条直线,得到测试路径。本发明还提供一晶片测试方法。本发明实现了减少测试中针卡走位的距离,节约针卡走位的时间,提高晶片的测试效率。 | ||
搜索关键词: | 测试 路径 选择 方法 相应 晶片 | ||
【主权项】:
一种测试路径选择方法,其特征在于,包括如下步骤:提供一晶片,所述晶片形成有管芯,所述管芯包括有效管芯和无效管芯;形成与所述晶片的管芯一一对应的晶片映射图;采用探针识别所述晶片的有效管芯和无效管芯的位置,在所述晶片映射图上根据所述晶片的有效管芯和无效管芯的位置标示出有效管芯和无效管芯的位置;在所述晶片映射图的管芯上根据一多电路块针卡图重复排列,使所述多电路块针卡图填充满所述晶片映射图,所述多电路块针卡图至少包括第一针卡标示和第二针卡标示;在所述晶片映射图上剔除掉完全占用所述无效管芯的多电路块针卡图,保留至少占用一所述有效管芯的多电路块针卡图;把所述晶片映射图上留下的每个多电路块针卡图中的第一标示对应的管芯连成一条直线,得到测试路径。
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