[发明专利]用于显示面板的线类不良检测的方法和检测装置有效
申请号: | 201310209644.7 | 申请日: | 2013-05-30 |
公开(公告)号: | CN103278948A | 公开(公告)日: | 2013-09-04 |
发明(设计)人: | 李明;张钟石;金用燮;刘晓涛 | 申请(专利权)人: | 合肥京东方光电科技有限公司;京东方科技集团股份有限公司 |
主分类号: | G02F1/13 | 分类号: | G02F1/13 |
代理公司: | 北京银龙知识产权代理有限公司 11243 | 代理人: | 许静;黄灿 |
地址: | 230011 安徽*** | 国省代码: | 安徽;34 |
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摘要: | 本发明提供一种用于显示面板的线类不良检测的方法和检测装置。所述方法包括:向显示面板的奇数行栅扫描线和偶数行栅扫描线分别输入第一导通信号和第一关闭信号,使奇数行栅扫描线控制的晶体管导通,而偶数行栅扫描线控制的晶体管关闭,获得第一检测画面;向显示面板的奇数行栅扫描线和偶数行栅扫描线分别输入第二关闭信号和第二导通信号,使奇数行栅扫描线控制的晶体管关闭,而偶数行栅扫描线控制的晶体管导通,获得第二检测画面;比较第一检测画面和第二检测画面,确定在第一检测画面或第二检测画面上出现的不良显示线为真的不良显示。本发明方法使检测结果更能够接近模组信号输入状态的点灯检查结果,能够检测出显示面板的真的不良情况。 | ||
搜索关键词: | 用于 显示 面板 不良 检测 方法 装置 | ||
【主权项】:
一种用于显示面板的线类不良检测的方法,其特征在于,所述显示面板包含晶体管,所述方法包括:向所述显示面板的奇数行栅扫描线和偶数行栅扫描线分别输入第一导通信号和第一关闭信号,使所述奇数行栅扫描线控制的所述晶体管导通,而所述偶数行栅扫描线控制的所述晶体管关闭,获得所述显示面板的第一检测画面;向所述显示面板的奇数行栅扫描线和偶数行栅扫描线分别输入第二关闭信号和第二导通信号,使所述奇数行栅扫描线控制的所述晶体管关闭,而所述偶数行栅扫描线控制的所述晶体管导通,获得所述显示面板的第二检测画面;比较所述第一检测画面和所述第二检测画面,确定在所述第一检测画面或所述第二检测画面上出现的不良显示线为真的不良显示。
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