[发明专利]基于比较测量结构的光学电流传感器及测量电流的方法

摘要

基于比较测量结构的光学电流传感器及测量电流的方法，属于光学电流传感器技术领域。本发明为了解决现有光学电流传感器中，磁光材料的费尔德常数由于受到温度变化的影响，造成导线电流的测量结果不准确的问题。传感器的激光发生器发射的激光束经分光器分光后，形成测量光束和参考光束，测量光束经第一起偏器起偏后依次入射至第一磁光玻璃、第一检偏器和第一光电探测器；参考光束经第二起偏器起偏后入射至第二磁光玻璃、第二检偏器和第二光电探测器；方法由第一磁光玻璃的法拉第偏转角、第二磁光玻璃的法拉第偏转角及第二磁光玻璃的磁场强度，获得第一磁光玻璃的磁场强度，进而获得通电线圈中的电流值。本发明用于测量通电线圈中的电流。

主权项

一种基于比较测量结构的光学电流传感器，其特征在于，它包括激光发生器(1)、分光器(2)、第一起偏器(3)、第一磁光玻璃(4)、通电线圈(5)、第一检偏器(6)、第一光电探测器(7)、第二起偏器(8)、第二磁光玻璃(9)、第二检偏器(10)和第二光电探测器(11)，通电线圈(5)螺旋缠绕在第一磁光玻璃(4)的外表面上，形成传感器的测量臂(B)；第二磁光玻璃(9)的上表面和下表面上均设置有平板形永磁体(9‑1)，第二磁光玻璃(9)和平板形永磁体(9‑1)形成传感器的参考臂(A)，所述参考臂(A)与测量臂(B)相互垂直设置，参考臂(A)垂直于第二磁光玻璃(9)的上表面；激光发生器(1)发射的激光束经分光器(2)分光后，形成测量光束(a)和参考光束(b)，测量光束(a)经第一起偏器(3)起偏后入射至第一磁光玻璃(4)，第一磁光玻璃(4)的出射光束经第一检偏器(6)检偏后入射至第一光电探测器(7)的光接收面；参考光束(b)经第二起偏器(8)起偏后入射至第二磁光玻璃(9)，第二磁光玻璃(9)的出射光束经第二检偏器(10)检偏后入射至第二光电探测器(11)的光接收面。