[发明专利]一种生成二维相位解缠质量图的方法及装置有效

专利信息
申请号: 201310080570.1 申请日: 2013-03-13
公开(公告)号: CN103325092A 公开(公告)日: 2013-09-25
发明(设计)人: 柳罡;邓云凯;王宇;李泓宇;陈润璞;邵云峰;袁志辉;李兴林 申请(专利权)人: 中国科学院电子学研究所
主分类号: G06T5/00 分类号: G06T5/00
代理公司: 北京派特恩知识产权代理事务所(普通合伙) 11270 代理人: 张颖玲;孟桂超
地址: 100190 *** 国省代码: 京;11
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摘要: 发明公开了一种生成二维相位解缠质量图的方法,包括:将缠绕相位数据变换为Ng个灰度等级数据;对变换后的灰度等级数据进行分块,将分块后的每个数据块生成对应的灰度共生矩阵(GLCM);采用新型的熵差计算模型计算生成的每个数据块对应的所述GLCM的熵差,得到二维相位解缠质量图。本发明同时公开了一种生成二维相位解缠质量图的装置,采用本发明的方法及装置,能生成稳定、有效的质量图,从而能正确地指导二维相位解缠,使得相位解缠结果更加可靠。
搜索关键词: 一种 生成 二维 相位 质量 方法 装置
【主权项】:
1.一种生成二维相位解缠质量图的方法,其特征在于,该方法包括:将缠绕相位数据变换为Ng个灰度等级数据;对变换后的灰度等级数据进行分块,将分块后的每个数据块生成对应的灰度共生矩阵(GLCM);采用新型的熵差计算模型计算生成的每个数据块对应的所述GLCM的熵差,得到二维相位解缠质量图;所述新型的熵差计算模型为:E=-Σk=0Ng-1PY(k)×log[PY(k)];]]>PY(k)=Σi=1NgΣj=1Ngp(i,j,d,θ),G(|W(i~-j~)-W(i~-j~)|)=k,k=0,1,...,Ng-1;]]>其中,E表示熵差,i、j表示两个像素的灰度级,d表示两个像素之间的距离,θ表示两个像素连线与横轴的夹角,W表示缠绕算子,表示未经量化的i值,表示未经量化的j值,G表示灰度级量化操作,p(i,j,d,θ)表示归一化GLCM元素。
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