[发明专利]半导体放射线检测器及使用它的核医学诊断装置无效
| 申请号： | 201310062269.8 | 申请日： | 2013-02-27 |
| 公开（公告）号： | CN103424765A | 公开（公告）日： | 2013-12-04 |
| 发明（设计）人： | 小南信也;翁久实;小桥启司 | 申请（专利权）人： | 日立民用电子株式会社 |
| 主分类号： | G01T1/36 | 分类号： | G01T1/36;A61B6/03 |
| 代理公司： | 北京银龙知识产权代理有限公司 11243 | 代理人： | 丁文蕴;郑永梅 |
| 地址： | 日本*** | 国省代码： | 日本;JP |
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| 摘要： | 本发明提供一种能计测122keV和662keV的γ射线能谱的半导体放射线检测器及使用它的核医学诊断装置。半导体放射线检测器（101）使用被阴极（112）和阳极（113）夹着的半导体晶体（113）而成。半导体晶体（111）由作为杂质的铅的浓度小于0.1ppm的溴化铊的单晶构成。由于溴化铊单晶中的铅原子的浓度小，所以铅原子能够对铊原子进行置换的晶体中的缺陷的密度变小，能加长电荷载流子的捕获长度，因而，作为放射线检测器，能以高的能量分辨率计测122keV和662keV的γ射线能谱。 | ||
| 搜索关键词： | 半导体 放射线 检测器 使用 核医学 诊断 装置 | ||
【主权项】：
一种半导体放射线检测器，使用被阴极和阳极夹着的半导体晶体而成，其特征在于，上述半导体晶体由作为杂质的铅的浓度小于0.1ppm的溴化铊的单晶构成。
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