[发明专利]扩散峭度张量成像的高阶张量特征参数提取方法有效

专利信息
申请号: 201310056881.4 申请日: 2013-02-22
公开(公告)号: CN103142229A 公开(公告)日: 2013-06-12
发明(设计)人: 赵欣;陈元园;倪红艳;丁皓;张希;明东 申请(专利权)人: 天津大学
主分类号: A61B5/055 分类号: A61B5/055
代理公司: 天津市北洋有限责任专利代理事务所 12201 代理人: 刘国威
地址: 300072*** 国省代码: 天津;12
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摘要: 发明涉及医疗器械技术领域,为提出一种新的实用的人脑白质结构异常的磁共振成像参数提取方法,通过一定的特征提取方法对组织的各向异性进行分析,达到客观评价病变程度的目的,本发明采取的技术方案是,扩散峭度张量成像的高阶张量特征参数提取方法,包括如下步骤:通过受试者在磁共振扫描仪上采集组织沿多个方向的扩散加权信号,拟合得到反映组织内水分子扩散分布概率密度函数特征的二阶及四阶张量,通过一定的张量分析得到由于组织结构异常引起的水分子扩散分布异常的病变特征,主要有扩散系数和峭度系数两个不同角度的参数。本发明主要应用于医疗器械设计制造。
搜索关键词: 扩散 张量 成像 特征 参数 提取 方法
【主权项】:
一种扩散峭度张量成像的高阶张量特征参数提取方法,其特征是,包括如下步骤:通过受试者在磁共振扫描仪上采集组织沿多个方向的扩散加权信号,拟合得到反映组织内水分子扩散分布概率密度函数特征的二阶及四阶张量,通过一定的张量分析得到由于组织结构异常引起的水分子扩散分布异常的病变特征,主要有扩散系数和峭度系数两个不同角度的参数。
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