[发明专利]发光特性测定装置以及方法无效
| 申请号： | 201310024897.7 | 申请日： | 2013-01-23 |
| 公开（公告）号： | CN103267628A | 公开（公告）日： | 2013-08-28 |
| 发明（设计）人： | 伊藤昭成;柳泽幸树;松本宪典;佐藤哲也;石川真治;内田练 | 申请（专利权）人： | 横河电机株式会社;夏普株式会社 |
| 主分类号： | G01M11/02 | 分类号： | G01M11/02 |
| 代理公司： | 北京天昊联合知识产权代理有限公司 11112 | 代理人： | 何立波;张天舒 |
| 地址： | 日本*** | 国省代码： | 日本;JP |
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| 摘要： | 本发明涉及一种测定发光元件的发光特性的发光特性测定装置，其具有：光学积分器，其具有能够对从排列的多个发光元件输出的光进行受光的入射口，从所述入射口对从所述多个发光元件输出的所述光进行受光，将受光的所述光均一化；受光装置，其对由所述光学积分器均一化后的所述光进行受光；以及控制处理装置，其使所述多个发光元件择一地依次发光，并且与所述发光元件相对于所述光学积分器的所述入射口的位置相对应，对从所述受光装置依次获得的受光结果进行校正。 | ||
| 搜索关键词： | 发光 特性 测定 装置 以及 方法 | ||
【主权项】：
一种发光特性测定装置，其测定发光元件的发光特性，其特征在于，具有：光学积分器，其具有能够对从排列的多个发光元件输出的光进行受光的入射口，从所述入射口对从所述多个发光元件输出的所述光进行受光，将受光的所述光均一化；受光装置，其对由所述光学积分器均一化后的所述光进行受光；以及控制处理装置，其使所述多个发光元件择一地依次发光，并且与所述发光元件相对于所述光学积分器的所述入射口的位置相对应，对从所述受光装置依次获得的受光结果进行校正。
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