[发明专利]测试电路、存储器系统以及存储器系统的测试方法有效
| 申请号： | 201210572825.1 | 申请日： | 2012-12-25 |
| 公开（公告）号： | CN103310849B | 公开（公告）日： | 2017-11-28 |
| 发明（设计）人： | 杨亨均;李炯东;权容技;文英硕;金弘植 | 申请（专利权）人： | 爱思开海力士有限公司 |
| 主分类号： | G11C29/12 | 分类号： | G11C29/12;G11C29/44 |
| 代理公司： | 北京弘权知识产权代理事务所(普通合伙)11363 | 代理人： | 周晓雨,俞波 |
| 地址： | 韩国*** | 国省代码： | 暂无信息 |
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| 摘要： | 本发明涉及在减小测试电路的大小的同时对具有高存储容量的存储器电路平稳地执行测试。根据本发明的测试电路包括测试执行单元，所述测试执行单元被配置成对目标测试存储器单元执行测试；内部存储单元，所述内部存储单元被配置成储存用于测试执行单元的数据；以及转换设定单元，所述转换设定单元被配置成将目标测试存储器电路的一部分存储空间或整个存储空间设定为储存用于测试执行单元的数据的外部储存单元。 | ||
| 搜索关键词： | 测试 电路 存储器 系统 以及 方法 | ||
【主权项】：
一种测试电路，包括：测试执行单元，所述测试执行单元被配置成对目标测试存储器电路执行测试；内部存储单元，所述内部存储单元被配置成储存用于所述测试执行单元的数据；以及转换设定单元，所述转换设定单元被配置成将所述目标测试存储器电路的一部分存储空间或整个存储空间设定为储存用于所述测试执行单元的数据的外部存储单元。
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