[发明专利]一种基于频率捷变改变雷达目标特性的方法有效
申请号: | 201210510610.7 | 申请日: | 2012-12-04 |
公开(公告)号: | CN103064073A | 公开(公告)日: | 2013-04-24 |
发明(设计)人: | 顾俊;王晓冰;梁子长 | 申请(专利权)人: | 上海无线电设备研究所 |
主分类号: | G01S7/41 | 分类号: | G01S7/41 |
代理公司: | 上海信好专利代理事务所(普通合伙) 31249 | 代理人: | 张妍 |
地址: | 200090 *** | 国省代码: | 上海;31 |
权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
摘要: | 本发明提出的一种基于频率捷变改变雷达目标RCS等特性的方法,通过天线照射模型、目标几何建模、目标电磁散射模型、部件间二次散射计算、捷变频下目标RCS仿真、捷变频下目标角闪烁、成像仿真、暗室验证测试以及验模及校模来实现。本发明由于将频率捷变技术应用于目标电磁散射特性研究领域,通过建立的目标电磁散射特性模型,实现了在捷变频下目标的RCS等宽带去相关特性,解决了微波雷达总体设计对目标特性的需要。 | ||
搜索关键词: | 一种 基于 频率 改变 雷达 目标 特性 方法 | ||
【主权项】:
一种基于频率捷变改变雷达目标特性的方法,其特征在于,包含以下步骤:步骤一:建立目标的电磁散射特性模型;先建立目标几何模型,同时引入天线照射模型并根据目标部件间二次散射计算的结果,来建立目标电磁散射特性模型;步骤二:计算在捷频变下目标的特性数据;在建立的目标电磁散射特性模型基础上,计算在不同频率、不同极化下目标的特性数据;步骤三:目标电磁散射特性测量;为了获得仿真结果的对比验证数据,开展微波暗室中目标的电磁散射特性测量;步骤四:模型的验证、校模及结果输出;对建立在捷频变下的目标电磁散射模型进行验模,通过将计算得到的目标特性数据与测量结果进行比对及误差分析,如果仿真计算的精度不满意,则重新修正模型再进行仿真计算,直到达到满意的精度要求为止。
下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于上海无线电设备研究所,未经上海无线电设备研究所许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服】
本文链接:http://www.vipzhuanli.com/patent/201210510610.7/,转载请声明来源钻瓜专利网。