[发明专利]一种用于ESD保护的低压触发SCR器件有效

专利信息
申请号: 201210493251.9 申请日: 2012-11-28
公开(公告)号: CN102938403A 公开(公告)日: 2013-02-20
发明(设计)人: 蔡小五;魏俊秀;梁超;闫明;吕川;刘兴辉;高哲;郭红梅 申请(专利权)人: 辽宁大学
主分类号: H01L27/02 分类号: H01L27/02;H01L29/74
代理公司: 沈阳杰克知识产权代理有限公司 21207 代理人: 金春华
地址: 110136 辽宁*** 国省代码: 辽宁;21
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摘要: 发明公开了一种用于ESD保护的低压触发SCR器件。本发明创造采用第一PMOS和第二PMOS分别进行衬底触发和栅触发,从而降低SCR器件的触发电压。ESD脉冲信号施加在Anode和Cathode之间,第一PMOS和第二PMOS首先被触发导通,第一PMOS开通之后,给Nwell施加一触发电流,第二PMOS开通之后给第三PMOS施加一触发电压。第一PMOS施加的Nwell触发电流和第三PMOS的沟道电流触发晶闸管导通,晶闸管电流(SCRcurrent)导通大部分ESD电流,从而实现了ESD保护。
搜索关键词: 一种 用于 esd 保护 低压 触发 scr 器件
【主权项】:
一种用于ESD保护的低压触发SCR器件,包括P型衬底(7),P型衬底(7)上设置N阱(6),其特征在于:设有第一PMOS(20)、第二PMOS(30)和第三PMOS(40);在N阱(6)上设有第一N+注入区(1)和第一P+注入区(2),第一P+注入区(2)临近N阱(6)和P型衬底(7)的交界处;在P型衬底(7)上设有第二N+注入区(3)和第三P+注入区(4),第二N+注入区(3)临近N阱(6)和P型衬底(7)的交界处;第一P+注入区(2)接阳极,作为第三PMOS(40)的源,第二P+注入区(5)作为第三PMOS(40)的漏跨接在N阱(6)和P型衬底(7)之间;第一PMOS(20)栅接阳极,漏接阴极,源接N阱(6)的第一N+注入区(1),衬底接电路的Vdd;第二PMOS(30)栅接阳极,漏接阴极,源接第三PMOS(40)的栅,衬底接电路的Vdd;第二N+注入区(3)和第三P+注入区(4)均接阴极。
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