[发明专利]一种用于ESD保护的低压触发SCR器件有效
申请号: | 201210493251.9 | 申请日: | 2012-11-28 |
公开(公告)号: | CN102938403A | 公开(公告)日: | 2013-02-20 |
发明(设计)人: | 蔡小五;魏俊秀;梁超;闫明;吕川;刘兴辉;高哲;郭红梅 | 申请(专利权)人: | 辽宁大学 |
主分类号: | H01L27/02 | 分类号: | H01L27/02;H01L29/74 |
代理公司: | 沈阳杰克知识产权代理有限公司 21207 | 代理人: | 金春华 |
地址: | 110136 辽宁*** | 国省代码: | 辽宁;21 |
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摘要: | 本发明公开了一种用于ESD保护的低压触发SCR器件。本发明创造采用第一PMOS和第二PMOS分别进行衬底触发和栅触发,从而降低SCR器件的触发电压。ESD脉冲信号施加在Anode和Cathode之间,第一PMOS和第二PMOS首先被触发导通,第一PMOS开通之后,给Nwell施加一触发电流,第二PMOS开通之后给第三PMOS施加一触发电压。第一PMOS施加的Nwell触发电流和第三PMOS的沟道电流触发晶闸管导通,晶闸管电流(SCRcurrent)导通大部分ESD电流,从而实现了ESD保护。 | ||
搜索关键词: | 一种 用于 esd 保护 低压 触发 scr 器件 | ||
【主权项】:
一种用于ESD保护的低压触发SCR器件,包括P型衬底(7),P型衬底(7)上设置N阱(6),其特征在于:设有第一PMOS(20)、第二PMOS(30)和第三PMOS(40);在N阱(6)上设有第一N+注入区(1)和第一P+注入区(2),第一P+注入区(2)临近N阱(6)和P型衬底(7)的交界处;在P型衬底(7)上设有第二N+注入区(3)和第三P+注入区(4),第二N+注入区(3)临近N阱(6)和P型衬底(7)的交界处;第一P+注入区(2)接阳极,作为第三PMOS(40)的源,第二P+注入区(5)作为第三PMOS(40)的漏跨接在N阱(6)和P型衬底(7)之间;第一PMOS(20)栅接阳极,漏接阴极,源接N阱(6)的第一N+注入区(1),衬底接电路的Vdd;第二PMOS(30)栅接阳极,漏接阴极,源接第三PMOS(40)的栅,衬底接电路的Vdd;第二N+注入区(3)和第三P+注入区(4)均接阴极。
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H01 基本电气元件
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L27-00 由在一个共用衬底内或其上形成的多个半导体或其他固态组件组成的器件
H01L27-01 .只包括有在一公共绝缘衬底上形成的无源薄膜或厚膜元件的器件
H01L27-02 .包括有专门适用于整流、振荡、放大或切换的半导体组件并且至少有一个电位跃变势垒或者表面势垒的;包括至少有一个跃变势垒或者表面势垒的无源集成电路单元的
H01L27-14 . 包括有对红外辐射、光、较短波长的电磁辐射或者微粒子辐射并且专门适用于把这样的辐射能转换为电能的,或适用于通过这样的辐射控制电能的半导体组件的
H01L27-15 .包括专门适用于光发射并且包括至少有一个电位跃变势垒或者表面势垒的半导体组件
H01L27-16 .包括含有或不含有不同材料结点的热电元件的;包括有热磁组件的
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L27-00 由在一个共用衬底内或其上形成的多个半导体或其他固态组件组成的器件
H01L27-01 .只包括有在一公共绝缘衬底上形成的无源薄膜或厚膜元件的器件
H01L27-02 .包括有专门适用于整流、振荡、放大或切换的半导体组件并且至少有一个电位跃变势垒或者表面势垒的;包括至少有一个跃变势垒或者表面势垒的无源集成电路单元的
H01L27-14 . 包括有对红外辐射、光、较短波长的电磁辐射或者微粒子辐射并且专门适用于把这样的辐射能转换为电能的,或适用于通过这样的辐射控制电能的半导体组件的
H01L27-15 .包括专门适用于光发射并且包括至少有一个电位跃变势垒或者表面势垒的半导体组件
H01L27-16 .包括含有或不含有不同材料结点的热电元件的;包括有热磁组件的