[发明专利]一种紫外增强污染材料测量装置无效
| 申请号： | 201210491054.3 | 申请日： | 2012-11-27 |
| 公开（公告）号： | CN102944494A | 公开（公告）日： | 2013-02-27 |
| 发明（设计）人： | 杨青;杨生胜;王鹢;薛玉雄;郭兴;庄建宏;田海;石红 | 申请（专利权）人： | 中国航天科技集团公司第五研究院第五一〇研究所 |
| 主分类号： | G01N5/02 | 分类号： | G01N5/02 |
| 代理公司： | 北京理工大学专利中心 11120 | 代理人： | 杨志兵;付雷杰 |
| 地址： | 730000 甘*** | 国省代码： | 甘肃;62 |
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| 摘要： | 本发明公开了一种紫外增强污染材料测量装置，属于空间应用技术领域。所述装置包括：液氮瓶、液氮冷凝层、真空紫外灯、样品台、石英晶体微量天平、高真空插板阀、分子泵、机械泵和真空室。所述装置采用真空紫外与真空污染设备相结合，提供了结合空间紫外辐射效应的模拟材料污染效应的装置，能够很好地模拟空间环境效应。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 紫外 增强 污染 材料 测量 装置 | ||
【主权项】：
一种紫外增强污染材料测量装置，其特征在于：所述装置包括：液氮瓶（1）、液氮冷凝层（2）、真空紫外灯（3）、样品台（4）、石英晶体微量天平（5）、高真空插板阀（6）、分子泵（7）、机械泵（8）和真空室（9）； 其中，液氮冷凝层（2）包覆在真空室（9）外，液氮瓶（1）与液氮冷凝层（2）相连，机械泵（8）通过阀门与分子泵（7）相连，分子泵（7）与真空室（9）相连，机械泵（8）还通过阀门与真空室（9）直接相连；石英晶体微量天平（5）置于真空室（9）内，真空紫外灯（3）安装于真空室（9）侧壁上，真空紫外灯（3）与石英晶体微量天平（5）处于同一水平高度，保证真空紫外灯（3）能够直射石英晶体微量天平（5），石英晶体微量天平（5）与真空紫外灯（3）的距离为300mm；样品台（4）安装于真空室（9）侧壁上，伸入真空室（9）的一端开有通孔，且样品台（4）含有加热装置。
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